Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования высокоточных измерительных технологий в области фотоники

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ВНИИОФИ

Базовая организация: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений"

Ведомственная принадлежность: Росстандарт

Год создания ЦКП: 2003

Сайт ЦКП: http://www.ckp.vniiofi.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 119361, г. Москва, ул. Озерная, 46

Руководитель ЦКП:

  • Крутиков Владимир Николаевич, доктор технических наук
  • +7 (495) 4375633
  • vniiofi@vniiofi.ru

Контактное лицо:

  • Золотаревский Юрий Михайлович, доктор технических наук, профессор
  • +7 (495) 4375633
  • ymz@vniiofi.ru, gusev@vniiofi.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 26Число публикаций, ед.: 9Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 58.66

Краткое описание ЦКП:

Основные области исследований:
Создание, развитие и совершенствование методов, технических средств и научного оборудования в области оптико-физических измерений
Предоставление научного оборудования Центра государственным научным организациям и государственным образовательным учреждениям высшего профессионального образования, выполняющим исследования в рамках научных задач, определенных приоритетами Программы
Выполнение измерений, исследований, а также поверки и калибровки средств измерений на метрологическом оборудовании Центра силами исследовательского персонала в интересах пользователей.
Осуществление метрологического обеспечения исследований и научного оборудования центров коллективного пользования

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Спектрофотометрия, спектрорадиометрия, в том числе лазерная, колориметрия;
  • Рефрактометрия и поляриметрия;
  • Измерения параметров волоконно-оптических линий связи;
  • Измерения оптических параметров быстропротекающих процессов;
  • Измерения параметров импульсных электрического и магнитного полей;
  • Измерения трехмерных распределений оптических свойств наноразмерных объектов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 71 ед.)

Анализатор размеров частиц Zetasizer Nano-ZS (Malvern Instruments)
Марка:  Zetasizer Nano-ZS
Фирма-изготовитель:  Malvern Instruments Ltd.
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Анализатор углерода и серы EMIA-Pro (Horiba)
Марка:  EMIA-Pro
Фирма-изготовитель:  Horiba
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec)
Марка:  Alpha 300
Фирма-изготовитель:  WITec GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Газовый лазер GEM SELECT 50 (Coherent) на длине волны 10,6 мкм
Марка:  GEM SELECT 50
Фирма-изготовитель:  Coherent Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 138-2010 Государственный первичный эталон единицы показателя преломления (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 138-2010
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измер
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 148-2013 Государственный первичный специальный эталон единиц максимальных значений напряженностей импульсных электрического и магнитного полей (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 148-2013
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 156-2015 Государственный первичный эталон единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
Марка:  ГЭТ 156-2015
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 157-2002 Государственный специальный эталон единицы энергетической освещенности малых уровней в диапазоне длин волн 1,0 – 50,0 мкм (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 157-2002
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 162-2012 Государственный первичный эталон единиц потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности и энергетической экспозиции в диапазоне длин волн 0,4 до 400 нм, (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 162-2012
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 170-2011 Государственный первичный специальный эталон единиц длины и времени распространения сигнала в световоде, средней мощности, ослабления и длины волны для волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 170-2011
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 178-2016 Государственный первичный специальный эталон единиц напряженностей импульсных электрического и магнитного полей с длительностью фронта импульсов в диапазоне от 10 до 100 пс, (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 178-2016
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 179-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости и относительного спектрального распределения мощности излучения в диапазоне длин волн 0,3…25,0 мкм, (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 179-2010
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 184-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц хроматической дисперсии в оптическом волокне (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 184-2010
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 185-2010 Государственный первичный специальный эталон единицы поляризационной модовой дисперсии в оптическом волокне (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 185-2010
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 186-2010 Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 186-2010
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 187-2016 Государственный первичный специальный эталон единиц энергии, распределения плотности энергии, длительности импульса и длины волны лазерного излучения (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 187-2016
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 196-2015 Государственный первичный эталон единиц массовой (молярной) доли и массовой (молярной) концентрации компонентов в жидких и твердых веществах и материалах на основе спектральных методов (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 196-2015
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 202-2012 Государственный первичный специальный эталон единицы импульсного тока молниевого разряда в диапазоне от 1 кА до 100 кА, (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 202-2012
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 203-2012 Государственный первичный эталон единицы комплексного показателя преломления (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 203-2012
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 205-2013 Государственный первичный эталон единицы оптической силы очковой оптики (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 205-2013
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 206-2016 Государственный первичный эталон единицы оптической плотности (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 206-2016
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 213-2014 Государственный первичный эталон единиц величин абсолютной и относительной спектральной чувствительности в диапазоне длин волн от 0,25 до 14,00 мкм
Марка:  ГЭТ 213-2014
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 214-2014 Государственный первичный специальный эталон единицы силы света малых уровней в диапазоне 10-6 – 10 кд
Марка:  ГЭТ 214-2014
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 215-2015 Государственный первичный специальный эталон единицы внутриглазного давления
Марка:  ГЭТ 215-2015
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 28-2016 Государственный первичный эталон единицы средней мощности лазерного излучения (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 28-2013
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 5-2012 Государственный первичный эталон единицы силы света и светового потока непрерывного излучения (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 5-2012
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 50-2008 Государственный первичный эталон единицы угла вращения плоскости поляризации (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 50-2008
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 81-2009 Государственный первичный специальный эталон единиц координат цвета и координат цветности
Марка:  ГЭТ 81-2009
Фирма-изготовитель:  ФГУП|ВНИИОФИ|
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 84-2015 Государственный первичный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности потока излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, спектральной плотности силы излучения, энергетической яркости,
Марка:  ГЭТ 84-2015
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 86-2010 Государственный первичный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин вол
Марка:  ГЭТ 86-2010
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ГЭТ 90-2007 Государственный первичный специальный эталон единицы мощности импульсного лазерного излучения в диапазоне длин волн 0,4-10,6 мкм (ВНИИОФИ)
Марка:  ГЭТ 90-2007
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu)
Марка:  XRD-7000S
Фирма-изготовитель:  Shimadzu Corporation
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ИК-Фурье спектрометр SPECTRUM GX (OPTICA)
Марка:  SPECTRUM GX
Фирма-изготовитель:  OPTICA
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Информационно-измерительная система для исследования оптоэлектронных элементов и устройств приема, передачи и обработки информации на основе радиофотоники (ИИС «Радиофотоника»)
Фирма-изготовитель:  Tektronix
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Испытательная климатическая камера Czibula Grundman
Фирма-изготовитель:  Czibula Grundman GMBHI.G.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс метрологический для измерений характеристик солнечных элементов МК-СЭ (ВНИИОФИ)
Марка:  МК-СЭ
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс метрологический КМ-РЭ (ВНИИОФИ) для измерения силы света, светового потока, координат цветности, яркости полупроводниковых излучателей
Марка:  КМ-РЭ
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измер
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплект осциллографических регистраторов и устройств
Марка:  Tektronix, Inc.P.O.Box 500,Beaverton,Oregon
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерный комплекс для прецизионной калибровки временной шкалы хронографов (ВНИИОФИ)
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Метрологический комплекс для ближнего УФ, вакуумного УФ, экстремального УФ, видимого, ИК, терагерцового и Рентгеновского диапазонов на основе источника Синхротронного излучения
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Метрологический комплекс для УФ-видимого-ИК диапазонов на основе оптических Излучателей - моделей черных тел (МЧТ)
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп атомно-силовой Innova (Veeco Instruments)
Марка:  Innova
Фирма-изготовитель:  Veeco Instruments Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1 (ВНИИОФИ)
Марка:  МИА-1
Фирма-изготовитель:  ФГУП«ВНИИОФИ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (ВНИИОФИ)
Марка:  МИА-1М
Фирма-изготовитель:  ФГУП«ВНИИОФИ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-Д (ВНИИОФИ)
Марка:  МИА-Д
Фирма-изготовитель:  ФГУП«ВНИИОФИ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А (Veeco Instruments)
Марка:  VCM-200А
Фирма-изготовитель:  Veeco Instruments Inc.
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп сканирующий интерференционный белого света Zygo NewView 6200 (Zygo Corporation)
Марка:  Zygo NewView 6200
Фирма-изготовитель:  Zygo Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп сканирующий конфокальный интерферометрический DCM 3D (Leica Microsystems)
Марка:  DCM 3D
Фирма-изготовитель:  Leica Microsystems GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl Zeiss)
Марка:  Libra
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss, Inc.
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп электронный сканирующий (растровый) Nvision 40 (Carl Zeiss)
Марка:  Nvision 40
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss, Inc.
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Непрерывный лазер Verdi V8 (Coherent) на длине волны 532 нм
Марка:  Verdi V8
Фирма-изготовитель:  Coherent Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Осциллограф TDS 784 D (Tektronix)
Марка:  TDS 784 D
Фирма-изготовитель:  Tektronix
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный спектрофотометр ЛЯМБДА 850 (Perkin Elmer)
Марка:  ЛЯМБДА 850
Фирма-изготовитель:  PerkinElmer Ink.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М (ВНИИОФИ)
Марка:  ПИК-30М
Фирма-изготовитель:  ФГУП«ВНИИОФИ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Скоростная электронно-оптическая камера (многокадровая) К011 (БИФО)
Марка:  К011
Фирма-изготовитель:  ООО «БИФО»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Скоростная электронно-оптическая камера (хронографическая) К008 (БИФО)
Марка:  К008
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрограф MS260itm (ARIЕL NewPort)
Марка:  MS260itm
Фирма-изготовитель:  ARIЕL NewPort
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр атомно-абсорбционный АА280FS (AgilentTechnologies)
Марка:  АА280FS
Фирма-изготовитель:  Varian (AgilentTechnologies)
Страна происхождения:  Австралия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр атомно-абсорбционный Квант-Z.ЭТА (КОРТЭК)
Марка:  Квант-Z.ЭТА
Фирма-изготовитель:  ООО «КОРТЭК»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр рентгенофлуоресцентный XGT-1000W (HORIBA)
Марка:  XGT-1000W
Фирма-изготовитель:  HORIBA (Хориба)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр эмиссионный с индуктивно-связанной плазмой Ultima 2 (Jobin Yvon)
Марка:  Ultima 2
Фирма-изготовитель:  Horiba(Jobin Yvon)
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр энергодисперсионный INCA Energy 250
Марка:  INCA Energy 250
Фирма-изготовитель:  OxfordInstruments
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрофлуориметр Fluorolog-3-22 (Jobin Yvon)
Марка:  Fluorolog-3-22
Фирма-изготовитель:  Horiba(Jobin Yvon)
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрофотометр Cary 50 Varian (Agilent Technologies)
Марка:  Cary 50
Фирма-изготовитель:  Varian (Agilent Technologies)
Страна происхождения:  Австралия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Уникальная технологическая линия для сборки фотоэлектронных приборов в высоком вакууме
Фирма-изготовитель:  ФГУП ВНИИОФИ (ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для воспроизведения единицы частоты оптического излучения в диапазоне 1100 нм – 1700 нм сиспользованием синтезатора оптических частот, рубидиевого стандарта частоты и узкополосного одночастотного лазера ВНИИОФИ
Фирма-изготовитель:  ФГУП "ВНИИОФИ"
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для подготовки образцов PIPS II Plus 695 (Gatan)
Марка:  PIPS II Plus 695
Фирма-изготовитель:  Gatan
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка напылительная настольная Q150T ES (Quorum Technologies)
Марка:  Q150T ES
Фирма-изготовитель:  Quorum Technologies Ltd
Страна происхождения:  Ангилья
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Хромато-масс-спектрометр 320MS (Bruker Daltonics)
Марка:  320MS
Фирма-изготовитель:  Bruker Daltonics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Чистые помещения (МФарм)
Фирма-изготовитель:  МФарм
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом GD Profiler 2 (Jobin Yvon)
Марка:  GD Profiler 2
Фирма-изготовитель:  Horiba(Jobin Yvon)
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП: (номенклатура — 5 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни; Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Рациональное природопользование; Транспортные и космические системы; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни; Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Рациональное природопользование; Транспортные и космические системы; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни; Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Рациональное природопользование; Транспортные и космические системы; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни; Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Рациональное природопользование; Транспортные и космические системы; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Рациональное природопользование; Транспортные и космические системы; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Проведение измерений в рамках НИР

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 158 ед.)

Калориметрический метод измерений тепловой мощности образцов плутония с применением калориметра модели 601 производства ANTECH CORPORATION
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.12.2012

Методика выполнения измерений спектрорадиометрических, фотометрических и цветовых параметров полупроводниковых светоизлучающих диодов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  06.12.2009
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений пространственных характеристик излучения полупроводниковых светоизлучающих диодов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  06.12.2009
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений «Определение внутриклеточной массы интерференционным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.11.2009
Методика уникальна:  нет

Методика изготовления экспериментальных образцов оптических дисковых микрорезонаторов с применением электронно-лучевой литографии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  18.12.2014
Методика уникальна:  нет

Методика изготовления экспериментальных образцов оптических микрорезонаторов с помощью механической обработки
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  18.12.2014
Методика уникальна:  нет

Методика изготовления экспериментальных образцов оптических микрорезонаторов с помощью термообработки
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  18.12.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров наноразмерных частиц гидроксиапатита в составе средств гигиены полости рта методом просвечивающей электронной микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  22.11.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений геометрических параметров частиц наноразмерного наполнителя в составе пломбировочного композитного материала светового отверждения методом растровой электронной микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  27.11.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений спектрального и интегрального коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 200 до 2500 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  12.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений спектрального и интегрального коэффициента диффузного отражения в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,50 мкм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  14.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений скорости передачи информации в оптическом тракте
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  26.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений массовой доли титана, хрома, висмута, кадмия, и бериллия в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  25.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений массовой доли железа, вольфрама, молибдена, хрома в никелевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  22.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений массовой доли железа, скандия, марганца, цинка, магния в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  20.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений параметров шероховатости поверхности интерференционным микроскопом «МИА-1М»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  18.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений размеров коллоидных частиц белков в молоке и молочных продукт ах методом динамического рассеяния света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  14.11.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений параметров позиционирования осей станков
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  08.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений ширины, углов расходимости и параметров качества пучка лазерного излучения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  06.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений средней мощности лазерного излучения в диапазоне от 10^(-6) до 10^(-3) Вт
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  04.12.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений параметров сверхкоротких электромагнитных импульсов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  25.09.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерений эффективной массы плутония-240 с применением счетчика множественности надтепловых нейтронов (RENMC)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.12.2012

Методика измерений легирующих добавок в хромоникелевых сталях атомно-эмиссионным методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.12.2012

Методика измерений квантового выхода фотолюминесценции квантовых точек
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.12.2012

Методика измерений оптических свойств защитного элемента «Полюс» МВИ 47-08-46-2007
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  08.10.2012

Методика измерений по оценке коэффициента отражения в свободном пространстве в диапазоне частот от 0,1 до 40 ГГц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.09.2012

Методика измерений массовой доли тантала, вольфрама и ниобия в перспективных титановых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  02.09.2012

Методика измерений параметров влияния структурно-фазового состояния на свойства углепластиков
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  02.09.2012

Методика измерений структурно-фазовых параметров препрегов и углепластиков (параметров углеродного волокна и межфазных границ волокно/матрица) с применением просвечивающей электронной микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  02.09.2012

Методика измерения показателя преломления биологических микрообъектов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.07.2012

Методика измерений силы света, пространственного распределения силы света и светового потока электрических источников света линейным фотометром на базе фотометрической скамьи
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  18.03.2012

Методика измерений массовых долей примесей в уране и его оксидах с применением комплекса атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  06.12.2013

Методика измерения массовой концентрации металлов в водных и солевых растворах и биологических жидкостях с возможностью определения размеров наночастиц методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.11.2011

Методика измерений светового потока светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  23.11.2011

Методика измерений пространственного распределения силы света светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  23.11.2011

Методика измерений координат цветности светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  23.11.2011

Методика измерений массовой концентрации углеродных нанотрубок в жидких средах методом абсорбционной спектрофотометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Методика измерений электрокинетического потенциала наночастиц в водных, солевых растворах и биологических жидкостях методом электрофоретического рассеяния света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Методика измерений тока короткого замыкания полимерфулереновых эталонных солнечных элементов с расширенным диапазоном спектральной чувствительности и эталонных солнечных элементов на основе технологии тонких пленок в стандартных условиях с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.11.2011

Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности полимерфулереновых эталонных солнечных элементов с расширенным диапазоном спектральной чувствительности и эталонных солнечных элементов на основе технологии тонких пленок в стандартных условиях с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.11.2011

Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов на основе наноструктурированных соединений AIIIBV (GaAs) с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.11.2011

Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов на основе наноструктурированных соединений AIIIBV (GaAs) с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса "МК-СЭ"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.11.2011

Методика измерения массовой концентрации металлов в водных и солевых растворах и биологических жидкостях с возможностью определения размеров наночастиц методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.11.2011

Методика измерений массовой доли нефти и конденсата газового стабильного в продукции нефтегазоконденсатных скважин методом ИК Фурье-спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2011

Методика измерений хроматической дисперсии в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  08.11.2011

Методика измерений поляризационной модовой дисперсии в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  08.11.2011

Методика измерений спектрального ослабления в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  08.11.2011

Методика измерений соотношения основных элементов, входящих в состав оксидного электропроводящего покрытия
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений определение массовой доли бора, кремния, церия, иттрия, железа, меди, марганца и фосфора в наноструктурированных деформированных жаропрочных никелевых сплавах методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой МИ 1.2.036-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений массовой доли хрома, молибдена, титана, ниобия и лантана в наноструктурированных деформированных жаропрочных никелевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой МИ 1.2.038-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений определение фазового состава, размера областей когерентного рассеяния, параметров элементарных ячеек образцов в виде порошков МИ 1.2.041-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений размеров и геометрических характеристик частиц на изображениях, полученных методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии с помощью программы обработки изображений IMAGE EXPERT PRO 3x МИ 1.2.042-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений несоответствия периодов решеток частиц (выделений) у'- фазы размером от 50 нм и более С у -матрицей темнопольными методами просвечивающей электронной микроскопии и методом рентгеноструктурного анализа МИ 1.2.043-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.10.2011

Методика измерений коэффициента пропускания образцов с оксидным электропроводящим покрытием МИ 1.2.033-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений величины поверхностного сопротивления образцов с оксидным электропроводящим покрытием МИ 1.2.034-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений отношения концентраций глутатиона восстановленного и глутатиона окисленного методом квадрупольной масс-спектрометрии для оценки индуцированного наночастицами окисленного стресса
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  26.10.2011

Методика измерений размеров и фракционного состава наночастиц серебра и оксида цинка в водных и солевых растворах и образцах биологического происхождения методом динамического рассеяния света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  25.10.2011

Методика измерений массовой концентрации наночастиц, содержащих серебро или цинк, в различных средах и биологической матрице на основе ядерно-физической спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  25.10.2011

Методика измерений распределения по глубине концентрации примесных химических элементов в слоистых структурах нанометрового диапазона на основе AlxGa1 xAs» с помощью вторично-ионного масс-спектрометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  17.10.2011

Методика измерений комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих полимерных композиционных материалов на базе векторных анализаторов цепей серии PNA в диапазоне частот от 0,1 до 40 ГГц МИ 1.2.40-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.10.2011

Методика измерений по оценке акустических свойств шумопоглощающих полимерных композиционных материалов МИ 1.2.39-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.10.2011

Методика измерений углов расходимости лазерного пучка полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.10.2011

Методика измерений мощности лазерного излучения полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.10.2011

Методика измерений спектральных характеристик лазерного излучения полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.10.2011

Методика измерений дисперсии показателя преломления наноструктурированных образцов методом спектроскопии пропускания и отражения в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  18.10.2011

Методика измерений значений нелинейно-оптической восприимчивости для процесса самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниках методом накачка-зонд
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  18.10.2011

Методика измерения эллипсометрических углов на эллипсометре
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.10.2011

Методика измерения параметров шероховатости подложек лазерных зеркал на автоматизированном интерференционном микроскопе МИА-Д
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.10.2011

Методика измерения параметров шероховатости подложек лазерных зеркал на автоматизированном интерференционном микроскопе МИА-1
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.10.2011

Методика измерения показателя преломления одиночной клетки двухиммерсионным методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.10.2011

Методика измерения радиуса кривизны и децентровки подложек зеркал на профилометре интерференционном компьютерном
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.10.2011

Методика измерений теплопроводности высокопористых теплоизоляционных материалов в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.032-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  15.09.2011

Методика измерений тепло- и температуропроводности материалов на основе тугоплавких соединений в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.031-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  15.09.2011

Методика измерений теплоемкости материалов на основе тугоплавких соединений в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.030-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  15.09.2011

Методика измерений термического коэффициента линейного расширения материалов на основе тугоплавких соединений в диапазоне температур 20...1400 С МИ 1.2.029-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  15.09.2011

Методика измерений температурного коэффициента линейного расширения высокожаропрочных сплавов в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.028-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2011

Методика измерений распределения по глубине концентрации бора, фосфора и мышьяка в кремнии с помощью вторично-ионного масс-спектрометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  11.09.2011

Методика измерений содержания гадолиния в водных растворах, суспензиях и сухих образцах полимерных наночастиц методом пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  30.08.2011

Методика измерений количественного анализа объемной плотности пластинчатых выделений метастабильных фаз в алюминиевых сплавах с литием МИ 1.2.026-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  22.08.2011

Методика измерений периода кристаллической решетки ТПУ фазы в жаропрочных никелевых сплавах МИ 1.2.025-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  22.08.2011

Методика измерений шероховатости поверхности наноструктурированной гетероэпитаксиальной структуры КРТ и полупроводниковой подложки (пластины)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  01.08.2011

Методика измерений оптического пропускания подложки (пластины)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  01.08.2011

Методика измерений плоскостности поверхности наноструктурированной гетероэпитаксиальной структуры КРТ и полупроводниковой подложки (пластины)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  01.08.2011

Методика измерений теплоемкости порошков наночастиц, полимерсиликатных нанокомпозитов и металлических образцов МИ 1.2.024-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  03.05.2011

Методика измерений коэффициента линейного расширения полимерсиликатных нанокомпозитов и металлических образцов МИ 1.2.023-2011
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  02.05.2011

Методика измерений освещенности, энергетической освещенности, яркости, энергетической яркости в диапазоне длин волн 0,4...1,1 мкм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  27.04.2011

Методика измерений МИ 1.2.015-2011 «Определение массовой доли легирующих элементов, микролегирующих элементов и примесей в высокорениевых и интерметаллидных в жаропрочных никелевых сплавах рентгено-флуоресценным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  10.04.2011

Методика измерения токсичности наночастиц и наноматериалов методом масс-спектрометрического профилирования белков эмбрионов рыб вида Данио рерио
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  03.04.2011

Методика измерений линейных размеров наночастиц и прослоек наноструктурированных фаз методом просвечивающей электронной микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений размеров фаз и слоев методом растровой электронной микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений состава наноструктурированных фаз и прослоек методом микрорентгеноспектрального анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений линейных размеров наночастиц и прослоек наноструктурированных фаз наносиликатов методом рентгеноструктурного анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих наноструктурированных материалов на полимерной эластофицированной основе с наполнителем в виде углеродных наночастиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений электропроводности (проводимости) порошка углеродных наночастиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений коэффициентов отражения радиопоглощающих наноструктурированных материалов на полимерной эластофицированной основе с наполнителем в виде углеродных наночастиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений эффективности преобразования солнечных элементов с использованием установки на основе имитатора солнечного излучения СТ200 метрологического комплекса «МК-СЭ»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.11.2010

Методика измерения массовой концентрации элементов в водных, солевых растворах и биологических средах, содержащих наночастицы, методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика измерений структурно-фазовых параметров компонентов углепластика с применением рентгеноструктурного анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  29.09.2010

Методика измерений структурно-фазовых параметров углепластиков (характеристик пористости) с применением оптической микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  29.09.2010

Методика измерений геометрических размеров эритроцита, субклеточных структур, липосом с помощью атомно-силового микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.10.2010

Методика измерения геометрических размеров нейрона и субклеточных структур с помощью атомно-силового микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.10.2010

Методика измерений трехмерного пространственного распределения поляризационных характеристик локального оптического поля в субдлинноволновом диапазоне на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика измерений трехмерного пространственного распределения интенсивности локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика измерений нелинейной восприимчивости третьего порядка для процесса самовоздействия света методом анализа профиля лазерного пучка
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика измерений нелинейных восприимчивостей второго и третьего порядков для процессов генерации второй и третьей оптических гармоник
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика измерений спектров пропускания и отражения одномерных и трехмерных фотонных кристаллов с помощью монохроматора/спектрографа SOLAR LS M266
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика измерений размеров и фракционного состава металлических и полимерных наночастиц в водных растворах и биологических жидкостях методом динамического рассеяния света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  30.06.2010

Методика измерений счетной концентрации наночастиц в водных, солевых растворах и биологических жидкостях методами абсорбционной спектрофотометрии и спектроскопии резонансного рассеяния
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  30.06.2010

Методика измерений температуры объектов с зависящей от длины волны излучательной способностью пирометрами спектрального отношения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  17.08.2010

Методика измерений «Определение показателя преломления двухиммерсионным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.05.2010
Методика уникальна:  нет

Методика измерений спектральных и фотоколометрических характеристик спектрорадиометром «SPECTRO 320 DTS 320-201» в диапазоне длин волн 380...930 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  23.02.2010
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений «Структурно-динамические свойства цитоплазмы эритроцита»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.11.2009
Методика уникальна:  нет

Методика измерений (МВИ 1.2.011-2009) «Определение массовой доли кальция и магния в жаропрочных никелевых сплавах, легированных рением и рутением»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.12.2009
Методика уникальна:  нет

Методика измерений (МВИ 1.2.010-2009) «Определение массовой доли скандия, иттрия и церия в жаропрочных никелевых сплавах, легированных рением и рутением, с использованием масс-спектрометра с индуктивно-связанной плазмой»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.12.2009
Методика уникальна:  нет

Методика измерений (МВИ 1.2.009-2009) «Определение массовой доли фосфора в жаропрочных никелевых сплавах, легированных рением и рутением, с использованием масс-спектрометра с индуктивно-связанной плазмой»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  09.12.2009
Методика уникальна:  нет

Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности приемников излучения с многослойными наноструктурами в диапазоне длин волн 120-400 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  18.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений потока излучения, энергетической освещенности и экспозиционной дозы в диапазоне длин волн 10-200 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  18.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,12 до 1,10 мкм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  14.09.2015
Методика уникальна:  нет

Методика измерения спектральных и цветовых параметров и характеристик излучения источников света и светотехнических изделий
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  18.03.2012

Методика измерения толщины покрытий при различных геометрических и оптических параметрах, таких как пористость и размер пор, шероховатость и оптический коэффициент отражения методом двухлучевой некогерентной интерферометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  24.11.2011

Методика измерения 3D-геометрии наноразмерных электродов акустоэлектронных устройств на пьезоподложках
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  23.11.2011

Методика измерения диаметра и длины несферических наночастиц в жидких средах методом мультиуглового динамического рассеяния света с учетом деполяризации рассеянного излучения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  21.11.2011

Методика измерения отношений интенсивностей пиков в спектрах комбинационного рассеяния на различных участках ядерных и безъядерных эритроцитов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  04.10.2011

Методика измерения массовой концентрации золота в тканях и внутренних органах лабораторных животных и оценки относительной эффективности проникновения наночастиц золота через биологические барьеры
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  07.11.2010

Методика измерения массовой концентрации золота в жидких средах, содержащих наночастицы, с возможностью оценки размеров частиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  13.09.2010

Методика калибровки средств измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  13.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика контроля воспроизводимости 3D-геометрических параметров керамического газочувствительного элемента, приготовленного по золь-гель технологии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  24.11.2011

Методика измерений (МВИ 1.2.007-2009) «Определение содержания циркония, церия, лантана в сложнолегированных наноструктурированных жаропрочных никелевых сплавах с применением метода ICP - спектрометрии (спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой)»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  29.10.2009
Методика уникальна:  нет

МИ абсолютного значения спектрального коэффициента диффузного отражения в диапазоне длин волн от 400 до 800 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  26.11.2015
Методика уникальна:  нет

МК 009.М4-15 Лампы накаливания светоизмерительные. Калибровка освещенности
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  17.06.2015
Методика уникальна:  нет

МК 010.М4-15 Светодиоды Калибровка силы света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  17.06.2015
Методика уникальна:  нет

МК 018.М4-16 Набор образцов полного диффузного отражения рефлектометра солнечного
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  08.08.2016
Методика уникальна:  нет

МК 019.М4-16 Набор образцов полного диффузного отражения рефлектометра инфракрасного
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  08.08.2016
Методика уникальна:  нет

МК 024.М4-15 Средств измерений спектральной плотности энергетической яркости и спектральной плотности.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  11.11.2015
Методика уникальна:  нет

МК 045.М4-16 Средства измерений освещенности
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  07.12.2016
Методика уникальна:  нет

МП 015.М4-16 ГСИ. Спектрофотометр КИО
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  07.04.2016
Методика уникальна:  нет

МП 016.Д4-16 ГСИ. Спектрофотометры LAMBDA 365
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  13.11.2016
Методика уникальна:  нет

МП 017.Д4-16 ГСИ. Спектрофотометры LAMBDA 265 и LAMBDA 465
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  22.11.2016
Методика уникальна:  нет

МП 022.М4-16 ГСИ. Установка для поверки и калибровки люксметров и яркомеров СТИЛЬБ-7
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  15.01.2016
Методика уникальна:  нет

МП 044.Д4-15 ГСИ. Спектрометры люминесцентные LS 45 и LS 55
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  12.08.2015
Методика уникальна:  нет

МП 054.М4-15 Ретрорефлектометры ZRM 6013+, ZRS 6060
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  14.07.2015
Методика уникальна:  нет

МП 062.Д4-15 Спектрофотометры DR 1900 и DR 900
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  14.04.2015
Методика уникальна:  нет

МП 073.М4-15 ГСИ. Комплекс гониофотометрический
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "ВНИИОФИ"
Дата аттестации:  14.07.2015
Методика уникальна:  нет

Определение химического состава высокопрочного пожаробезопасного титанового сплава
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  29.09.2010

Референтная методика измерений массовой доли титана и галлия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Референтная методика измерений массовой доли титана, хрома и бериллия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с электротермической атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Референтная методика измерений массовой доли магния, никеля и ванадия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Референтная методика измерений массовой доли висмута и кадмия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с электротермической атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Референтная методика измерений массовой доли бериллия и цинка в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  20.11.2011

Референтная методика измерения молярной концентрации магния в плазме крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.12.2010

Референтная методика измерения магния в сыворотке крови
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.12.2010

Референтная методика измерения молярной концентрации кальция в плазме крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.12.2010

Референтная методика измерений молярной концентрации лития в сыворотке крови методом атомно - абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.12.2010

Референтная методика измерения молярной концентрации натрия в сыворотке крови методом атомно-эмиссионной спектрометрии с пламенной атомизацией. Свидетельство № 03-2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.01.2010
Методика уникальна:  нет

Референтная методика измерения молярной концентрации калия в сыворотке крови методом атомно-эмиссионной спектрометрии с пламенной атомизацией. Свидетельство № 02-2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.01.2010
Методика уникальна:  нет

Референтная методика измерения молярной концентрации кальция в сыворотке крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией. Свидетельство № 01-2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное государственное унитарное предприятие Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ)
Дата аттестации:  19.01.2010
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран