Центр коллективного пользования «Центр по исследованию высокотемпературных сверхпроводников и других сильнокоррелированных электронных систем»
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ФИАН
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт имени П.Н. Лебедева Российской академии наук
Ведомственная принадлежность: ФАНО России
Год создания ЦКП: 2004
Сайт ЦКП: http://sites.lebedev.ru/cac/
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
|
Центр по исследованию высокотемпературных сверхпроводников и других сильно-коррелированных электронных систем был создан 2004г. как структурное подразделение Физического института им. П.Н. Лебедева на базе трех отделений ФИАН. Основные направления научной деятельности ЦКП: - Исследование сверхпроводимости, включая ВТСП - Исследование мезоскопических систем, а также новых материалов для элементной базы микроэлектроники, наноэлектроники и квантовых компьютеров - Исследование низкоразмерных электронных систем в полупроводниках - Исследование органических материалов - Исследование эффектов сильных межэлектронных корреляций - Исследование магнетизма и магнитных материалов |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Фотографии ЦКП:
Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 28 ед.):
|
Измерительная установка «0.3К/21Тл» для измерений проводимости, магнитосопротивления и магнитной восприимчивости в магнитном поле 21Тл при температурах 0,3-300К.(входит в состав УНУ "Экстрим")
Измерительная установка - автоматизированный СКВИД-магнитометр MPMS-7 (в составе УНУ "ЭКСТРИМ")
Измерительная установка «0.3K/7Тл» для измерения магнитотранспорта и его анизотропии в магнитном поле
Измерительная установка СКВИД-магнитометр
Интерференционный микроскоп ЛЮМАМ И-3 (ЛОМО)
Инфракрасный Фурье-спектрометр высокого разрешения
Комплекс аппаратуры для изготовления полевых МДП структур
Комплекс аппаратуры для измерений транспортных свойств материалов в диапазоне давлений 0-3ГПа (в составе УНУ ЭКСТРИМ;)
Комплект оборудования для твердофазного синтеза, включая: планетарную мельницу; прибор для обработки металлов в атмосфере аргона; пилу алмазную настольную
Многофункциональная измерительная криомагнитная установка CFMS-16
Многофункциональный автоматизированный комплекс PPMS-9 для проведения электрических, магнитных и температурных измерений свойств материалов (в составе УНУ ЭКСТРИМ;)
Рентгеновский дифрактометр X’Pert PRO MRD («PANAlytical)
Сдвоенные герметичные перчаточные боксы со шлюзами, муфельной печью, шаровой мельницей, аналитическими весами
Система измерения магнитных свойств на переменном токе на основе моста с перестраиваемой частотой АН 2700С
Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro
Установка - вибрационный магнитометр для измерений намагниченности в полях до 21Тесла и в диапазоне температур 1,4 - 300К (в составе УНУ ЭКСТРИМ)
Установка "TOR" для напыления тонких металлических и диэлектрических пленок методом магнетронного распыления и электронно-лучевого испарения
Установка Helios NanoLab 660 для нанолитографии
Установка для подготовки образцов к измерениям методом ультразвуковой микросварки
Установка для выращивания стандартных образцов высокосовершенных монокристаллов методом бестигельной зонной плавки с оптическим нагревом
Установка для измерений при сверхнизких температурах до 10мК, в диапазоне частот до 20ГГц
Установка для измерений температурной зависимости химического потенциала в диапазоне температур 4,2-300К
Установка для лазерной литографии, включая генератор изображения лазерный Heidelberg mPG101, с антивибрационным гранитным столом; блоками нанесения и сушки фоторезиста.
Установка для напыления пленок PLD/MBE модель PVD-2300 (PVD)
Установка для рентгеноструктурного анализа Rigaku Miniflex 600
Установка плазмохимической очистки
Установка по измерению переходных процессов в ВТСП устройствах и измерению критических токов в длинномерных ВТСП проводах
Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS |
Услуги ЦКП (номенклатура — 20 ед.):
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Бесконтактные измерения локальных значений плотности критического тока сверхпроводящих ВТСП-лент и пленок. Предлагаемая индукционная методика основана на измерении полного нелинейного отклика образца на переменное магнитное поле, наводимое внешней микрокатушкой, расположенной у поверхности образца. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Краткое описание услуги: Пленочная МДП структура на поверхности исследуемых материалов (полуметаллов или полупроводников) создается нанесением органического диэлектрика методом CVD. Изготовление таких структур необходимо для проведения измерений вариаций химического потенциала образцов. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Краткое описание услуги: Изготовление стандартных образцов тонких эпитаксиальных пленок высокотемпературных сверхпроводников YBaCuO и FeSe(Te) методом лазерного напыления с фильтрацией скорости частиц Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Анизотропия тензора проводимости испытуемых материалов измеряется путем прецизионного вращения образца относительно направления магнитного поля. Диапазон магнитных полей - до 14Т, диапазон температур 0,4 - 300К. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измеряются компоненты тензора сопротивления образца, помещенного в криостат с магнитным полем до ~14Т. Диапазон температур 0,4 - 300К. Измерения проводятся 4-контактным методом на переменном или постоянном токе. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерение критических токов и переходных процессов в устройствах и проводах на основе высокомемператрных сверхпроводников Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерение спектров отражения и поглощения объмных и пленочных материалов и гетероструктур в диапазоне длин волн 0,5мкм- 1мм (c разрешением до 0,01см-1) и в диапазоне температур 4,2-300К с помощью инфракрасного спектрометра сверхвысокого разрешения IFS-125H Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Краткое описание услуги: Измерения геометрического и потенциального профиля поверхности проводящих материалов методом СТМ и АФМ при комнатной температуре с помощью зондового микроскопа SolverPro Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Краткое описание услуги: Измерения производной химического потенциала по температуре проводятся емкостным методом при помощи изготовляемой на поверхности испытуемого объемного или пленочного образца полевой структуры металл-диэлектрик- исследуемый образец. Диапазон температур - 4 - 300К. Результат измерений - температурная зависимость энтропии на 1 электрон и теплоемкости на 1 электрон. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Краткое описание услуги: Измерения катодолюминесценции поверхности образцов с помощью электронного микроскопа JSM-7001FA Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения параметров решетки, толщины и состава монокристаллических эпитаксиальных квантовых ям полупроводниковых и металлических структур с помощью дифрактометра X'PertPRO MRD Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения полевой и температурной зависимостей AC-магнитной восприимчивости и магнитного момента материалов в диапазоне температур 1,8 – 350К и магнитных полей до 9Тл с помощью многофункционального автоматизированного комплекса для измерения физических свойств «PPMS-9». Измерения проводятся индуктивным методом на низкой частоте. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения полевой и температурной зависимостей магнитного момента материалов в диапазоне температур 2 – 500К и магнитных полей до 7Тл с помощью автоматизированного СКВИД-магнитометра «MPMS-XL-7» с порогом чувствительности 10-8 emu Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения теплоемкости материалов и структур в диапазоне температур 0,4-400К и в магнитных полях до 9Тесла с помощью многофункционального автоматизированного комплекса для измерения физических свойств «PPMS-9» Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения теплопроводности металлических и полупроводниковых структур в диапазоне температур 1,8-400К и в магнитных полях до 9Тесла с помощью многофункционального автоматизированного комплекса для измерения физических свойств «PPMS-9» Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измеряются две компоненты тензора сопротивления испытуемого образца в зависимости от магнитного поля (0 - 9Т) и температуры (0.35 - 400К). Измерения проводятся на переменном токе низкой частоты, 4-контактным методом, с помощью синхронного детектирования. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерение транспортных свойств образцов (тензор проводимости и его анизотропия относительно вектора магнитного поля) в условиях высокого гидростатического давления до 3ГПа, в диапазоне температур 0,3 - 300К и полей до 21Т. Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения фазового состава поликристаллических порошковых образцов на дифрактометре ДРОН-2 методом Ритвальда Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика Краткое описание услуги: Измерения энергетических щелей в спектре сверхпроводниковых материалов проводятся формированием микроконтакта на микротрещине. Измерения проводятся в режимах Андреевского отражения и многократного Андреевского отражения на одиночных контактах и цепочках контактов. |
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 19 ед.):
|
Методика измерений теплоемкости с помощью автоматизированного измерительного комплекса «PPMS-9»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 12.03.2015
Бесконтактные измерения критического тока ВТСП лент
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 15.02.2012
Экспресс-измерения комплексной магнитной восприимчивости материалов
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 21.09.2011
Методика измерения мощности излучения полупроводниковых лазеров на квантовых точках
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИ Метрологической службы Росстандарта Дата аттестации: 10.11.2009
Методика измерения локального элементного состава поверхности методом EDX с помощью электронного микроскопа JSM-7001FA
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 15.02.2012
Методика измерения состава и толщины монокристаллических эпитаксиальных квантовых ям
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИ Метрологической службы Росстандарта Дата аттестации: 09.11.2009
Методика выполнения измерений при изготовлении стандартных образцов тонких эпитаксиальных пленок YBaCuO методом лазерного напыления с фильтрацией скорости частиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 21.09.2011
Методика выполнения измерений полевой и температурной зависимостей AC-магнитной восприимчивости материалов в диапазоне температур 0,35 – 400К и магнитных полей до 9Тл с помощью многофункционального автоматизированного комплекса для измерения физических свойств «PPMS-9»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009
Методика выполнения измерений сверхпроводящих щелей в электронных спектрах сверхпроводниковых материалов методом микроконтактной спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 21.09.2011
Методика выполнения измерений спектров отражения и пропускания в ИК-диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 27.04.2010
Методика выполнения измерений теплопроводности металлических и полупроводниковых структур в диапазоне температур 1,8-400К и в магнитных полях до 9Тесла с помощью многофункционального автоматизированного комплекса для измерения физических свойств «PPMS-9»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009
Методика измерения в условиях высокого давления (до 3ГПа) сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур в диапазоне температур 300К-0,3К в магнитном поле до 21Тесла
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 15.02.2012
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур в диапазоне температур 300К-0,3К в магнитном поле с помощью измерительной установки «0,3К/21Тл»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 15.02.2012
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур в диапазоне температур 300К-1,2К в магнитном поле с помощью измерительной установки «0,3К/21Т»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 15.02.2012
Методика измерения транспортных характеристик (сопротивление, магнитосопротивление, холловское сопротивление) металлических и полупроводниковых структур при субгелиевых температурах и в магнитных полях до 9 Тесла с помощью автоматизированного измерительного комплекса «PPMS-9»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур в диапазоне температур 300К-0,3К в магнитном поле с помощью измерительной установки «0,3К/21Тл»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009
Методика измерений полевой и температурной зависимостей магнитного момента материалов с помощью измерительной установки «MPMS-XL-7»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур при сверхнизких температурах в магнитном поле с помощью измерительной установки «0,03К/13Тл»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур в диапазоне температур 300К-1,3К в магнитном поле с помощью измерительной установки «1,3К/16Тл»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФИАН (ГОСТ Р 8.563.) Дата аттестации: 13.12.2009 |
