Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования МГУ им. М.В. Ломоносова «Технологии получения новых наноструктурированных материалов и их комплексное исследование»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП МГУ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова»

Ведомственная принадлежность: Правительство РФ

Год создания ЦКП: 2003

Сайт ЦКП: http://ckp-nano.msu.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 119991, г. Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2

Руководитель ЦКП:

  • Федянин Андрей Анатольевич, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (495) 9382210
  • info@physics.msu.ru

Контактное лицо:

  • Форш Павел Анатольевич, кандидат физико-математических наук, доцент
  • +7 (495) 9391566
  • forsh@physics.msu.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • выполнение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию наноматериалов;
  • исследование состава, структуры и основных физико-химических свойств наноматериалов методами массспектроскопии, газовой, газо-жидкостной и жидкостной хроматографии, дифференциальной сканирующей калориметрии теплового потока, термогравиметрического анализа, дифференциального термического анализа, капиллярного электрофореза, дифрактометрии, электронной (растровой и просвечивающей) и зондовой (туннельной, атомно-силовой и ближнепольной) микроскопии;
  • прецизионные спектральные исследования наноматериалов, включая фемтосекундную спектроскопию, низкотемпературную фотолюминесцентную спектроскопию, инфракрасную спектроскопию отражения и пропускания, спектроскопию комбинационного рассеяния, спектроскопию электронного парамагнитного и ядерного магнитного резонансов, мессбауэровскую спектроскопию;
  • работы по нанобиотехнологии, наномедицине и нанодиагностике с предоставлением возможности использования таких методов, как конфокальная и флуоресцентная микроскопия, комплекс молекулярно-биологических, иммунохимических и иммуногистохимических, биохимических методов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Информационно-телекоммуникационные системы

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 74 ед.)

Автоматизированная система высокого давления для синтеза наноматериалов Parr 4592 (Parr Instrument Company)
Марка:  Parr 4592
Фирма-изготовитель:  Parr Instrument Company
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Анализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
Марка:  Quantachrome NOVA 4200e
Фирма-изготовитель:  Quantachrome Instruments Boynton Beach
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Анализатор удельной площади поверхности и пористости
Марка:  Gemini2390t
Фирма-изготовитель:  Gemini
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Аналитический просвечивающий электронный микроскоп Libra 200MC (Carl Zeiss) с комплектом оборудования для пробоподготовки
Марка:  Libra 200MC
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Атомно-эмиссионный спектрометр с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500 Optima ICP 5300DVK (PerkinElmer)
Марка:  Optima ICP 5300DVK
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer Life And Analytical Sciences,
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Времяпролетный масс-спектрометр с ионизацией МАЛДИ Autoflex II (Bruker)
Марка:  Autoflex II
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Газовый хроматограф Agilent 6890N (Agilent Technologies)
Марка:  Agilent 6890N
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Газовый хроматограф высокого разрешения с масс-спектроскопическим детектором Clarus 600 (Perkin Elmer)
Марка:  Clarus 600
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Дифрактометр STADI/P CuK (STOE)
Марка:  STOE STADI P
Фирма-изготовитель:  STOE
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 200 F3 Maya (NETZSCH-Geratebau)
Марка:  DSC 200 F3 Maya
Фирма-изготовитель:  NETZSCH-Geratebau GnbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  3

Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 204 F1 Phoenix (NETZSCH-Geratebau)
Марка:  DSC 204 F1 Phoenix
Фирма-изготовитель:  NETZSCH-Geratebau GnbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Жидкостный хромато-масс-спектрометр с двойной фокусировкой 1100LC (Agilent Technologies)
Марка:  Agilent
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

ИК-спектрофотометр Spectrum One (PerkinElmer)
Марка:  Spectrum One
Фирма-изготовитель:  PerkinElmer Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

ИК-Фурье спектрометр с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S
Марка:  EQUINOX 55
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Инфракрасный спектрометр в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния
Марка:  BRUCKER IFS-66v/S
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства Integra Aura (НТ-МДТ)
Марка:  INTEGRA
Фирма-изготовитель:  ЗАО "Нанотехнология МТД"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Исследовательский микроскоп c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений Axioplan-2 Imaging (Carl Zeiss)
Марка:  Axioplan-2 Imaging
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss MicroImag-ing GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Квадрупольный масс-спектрометр NETZSCH 403C Aeolos
Марка:  NETZSCH 403C Aeolos
Фирма-изготовитель:  NETZSCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Комплекс дифференциальнотермического и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA (PerkinElmer)
Марка:  Diamond Pyris TG/DTA
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

Лазерный анализатор частиц Analysette 22 NANOTEC (FRITSCH)
Марка:  Analysette 22 NANOTEC
Фирма-изготовитель:  Fritsch
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Лазерный анализатор частиц FRITCH Analyzette 22
Марка:  FRITCH Analyzette 22
Фирма-изготовитель:  FRITCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Лазерный масс-спектрометр LAMMA-1000 (LEYBOLD-HERAEUS)
Марка:  LAMMA-1000
Фирма-изготовитель:  LEYBOLD-HERAEUS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM-510 Meta (Carl Zeiss)
Марка:  LSM-510 Meta
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss MicroIma-ging GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Люминесцентный спектрометр LS-55 (Perkin Elmer) в комплекте с приставками
Марка:  LS-55
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer Life And Analytical Sciences
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Люминесцентный спектрометр с приставками LS-55 (Perkin Elmer)
Марка:  LS-55
Фирма-изготовитель:  "Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc"
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Масс-анализатор ионов и нейтральных частиц INA-3 (LEYBOLD-HERAEUS)
Марка:  INA-3
Фирма-изготовитель:  LEYBOLD-HERAEUS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр ELAN DRC-II (PerkinElmer)
Марка:  Perkin-Elmer ELAN DRC-II
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer Life And Analytical Sciences
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Agilent 7500 (Agilent Technologies)
Марка:  Agilent 7500
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Металлографический микроскоп с термостатируемым держателем
Марка:  Eclipse 600 pol
Фирма-изготовитель:  Nikon
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микро Раман спектрометр
Марка:  LabRAM HR Visible
Фирма-изготовитель:  Horiba Jobun Yvon S.A.S.
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроанализатор поверхности Autosorb 1-C/TCD/MS (Quantachrome)
Марка:  Quantochrome Autosorb 1-C/TCD/MS
Фирма-изготовитель:  Quantachrome Instruments Boynton Beach
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Микрозондовый аналитический комплекс LEO1455VP (Carl Zeiss)
Марка:  LEO1455VP
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21 (ЛОМО)
Марка:  МЕТАМ РВ-21
Фирма-изготовитель:  ОАО ЛОМО
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Нанокалориметр Nanocalorimeter 1 (Mikromasch)
Марка:  Mikromash Nanocalo-rimeter 1
Фирма-изготовитель:  Mikromasch
Страна происхождения:  Эстония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Нанокалориметр Nanocalorimeter 1 (Mikromash)
Марка:  Nanocalorimeter 1
Фирма-изготовитель:  Mikromash
Страна происхождения:  Эстония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Настольная напылительная установка Q150T Turbo-Pumped Sputter (Carbon Coater)
Марка:  Q150T Turbo-Pumped Sputter
Фирма-изготовитель:  Carbon Coater
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Оборудование для ультратомии (ультрамикротом)
Марка:  ULTRACUT UC6
Фирма-изготовитель:  Leica Micro-systems
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический тензитометр
Марка:  FTA 1000B
Фирма-изготовитель:  FirstTenAngstrom
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Планетарная моно-мельница Pulverisette 6 (FRITCH)
Марка:  Pulverisette 6
Фирма-изготовитель:  FRITCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Порошковый дифрактометр системы STOE STADI P (STOE Cie GmbH)
Марка:  STOE STADI P
Фирма-изготовитель:  STOE
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Препаративный жидкостный хроматограф Agilent 1100 (Agilent Technologies)
Марка:  Agilent 1100
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Прибор синхронного термического анализа
Марка:  NETZSCH STA 449 C/4/G Jupiter
Фирма-изготовитель:  NETZSCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Просвечивающий электронный микроскоп
Марка:  JEM-1011
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Проточный цитометр
Марка:  FC500
Фирма-изготовитель:  Beckman Coulter, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рамановский спектрометр/микроскоп InVia (Renishaw)
Марка:  Renishaw InVia
Фирма-изготовитель:  Renishaw plc
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Рентгеновский дифрактометр c вращающимся анодом ultraX D/MAX-2500V/PC (Rigaku)
Марка:  D/MAX-2500V/PC
Фирма-изготовитель:  Rigaku Corporation
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Система для характеризации наночастиц Malvern Zetasizer Nano ZS
Марка:  Malvern Zetasizer Nano ZS
Фирма-изготовитель:  Malvern Instruments Ltd
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Система формирования планарных структур PixDro LP50 (HQ Pixdro b.v.)
Марка:  PixDro LP50
Фирма-изготовитель:  HQ Pixdro b.v.
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Сканирующий зондовый комплекс с регулируемым внешним магнитным полем ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ)
Марка:  ИНТЕГРА Аура
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид/БлИК-диапазона с оптической скамьей Lambda 950 (PerkinElmer)
Марка:  Perkin-Elmer Lambda 950
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP (Carl Zeiss)
Марка:  LEO EVO 50XVP
Фирма-изготовитель:  LEO (Karl Zeiss Group)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроскоп
Марка:  JSM-6380LA
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа INCA Energy Oxford Supra 50 VP LEO
Марка:  Supra 50 VP LEO
Фирма-изготовитель:  LEO (Karl Zeiss Group)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

СКВИД магнитометр S700 (Cryogenic) с VSM модулем
Марка:  S700
Фирма-изготовитель:  Cryogenic Limited
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Спектральный комплекс на базе спектрографа SOLAR TII и монохроматора МДР 12 для исследования оптических свойств наноматериалов (Hamamatsu)
Марка:  нет
Фирма-изготовитель:  Hamamamа-tsu, Advanced Research Systems Inc., LTBLaser-technik Berlin GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2000
Количество единиц:  1

Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12 (Bruker)
Марка:  ELEXSYS-E500-10/12
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Спектрофотометр Specord 50 PC (Analytik Jena)
Марка:  Specord 50 PC
Фирма-изготовитель:  Analytik Jena AG
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Сублиматор
Марка:  Labcono Freezone 18
Фирма-изготовитель:  Labcono Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сублиматор криохимический SMH-15 (USIFROID)
Марка:  SMH-15
Фирма-изготовитель:  USIFROID
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  1993
Количество единиц:  1

Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера (ООО АВЕСТА ПРОЕКТ)
Фирма-изготовитель:  ООО "АВЕСТА ПРОЕКТ"
Страна происхождения:  Литва
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Сухой бокс с контролируемой атмосферой Protector CA (Labconco)
Марка:  Labconco Protector CA
Фирма-изготовитель:  Labcono Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Термомикровесы
Марка:  TG 209 F1 Iris
Фирма-изготовитель:  NETZSCH-Geratebau GnbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Трехзонная лабораторная печь EVC 12/450 (Carbolite)
Марка:  EVC 12/450
Фирма-изготовитель:  Carbolite
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Ультрамикротом Ultracut-R (Leica Microsystems)
Марка:  Ultracut-R
Фирма-изготовитель:  Leica Microsystems
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Установка для измерения комплексной магнитной восприимчивости APD SCC (Cryogenic)
Марка:  APD SCC
Фирма-изготовитель:  Cryogenics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  1993
Количество единиц:  1

Установка для измерения комплексной магнитной восприимчивости Cryogenic Limited
Марка:  Cryogenic Limited
Фирма-изготовитель:  Cryogenic Limited
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов (Alcatel)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Alcatel
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Установка для распылительной сушки Mini Spray Dryer B-290 (BUCHI)
Марка:  Mini Spray Dryer B-290
Фирма-изготовитель:  BUCHI
Страна происхождения:  Испания
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35 (PerkinElmer)
Марка:  Lambda 35
Фирма-изготовитель:  PerkinElmer Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

Фурье ЯМР спектрометр Avance III 400
Марка:  Bruker AVANCE 400
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2000 FXII (JEOL)
Марка:  JEOL JEM-2000 FXII
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1

Электрохимическая система потенциостат/гальваностат (включая модуль спектроскопии)
Марка:  AutoLab PGSTAT302
Фирма-изготовитель:  Eco Chemie B.V.
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Электрохимический потенциостат Solartron 1287 (Solartron Analytical Uni)
Марка:  Solartron 1287
Фирма-изготовитель:  Solartron Analytical Uni
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1

ЭПР-спектрометр ELEXSYS-E500-10/12 (Bruker)
Марка:  ELEXSYS-E500-10/12
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Услуги ЦКП: (номенклатура — 21 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Рациональное природопользование; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Проведение исследований методом дифференциального термического и термогравиметрического анализа

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 119 ед.)

Методика проведения измерений комбинационного рассеяния света на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.

"Методики измерений методом кросс-корреляционной спектроскопии параметров угловой дисперсии времени жизни бегущих плазмонов в одномерно и двумерно наноструктурированных элементах МИ №66/11 01.00276-2008"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  30.11.2011

1405/ Plastics and rubbers - Conventional glassy transition temperature (thermal analysis) (Notification n° KCM 7300/275)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Renault Technologies Romania Department of Engineering Materials - DIMat-R ***

NF T 46-047/ Rubber and rubber products - Determination of composition of vulcanizates and uncured compounds by thermogravimetry (Notification n° KCM 7300/275)

NF T 46-100/ Rubber - Determination of solvent extract (Notification n° KCM 7300/275)

Измерение площади поверхности с помощью микроанализатора поверхности Quantochrome Autosorb 1

МВИ № 2-05 Методика выполнения измерений массовой концентрации хлоргексидина и триклозана в образцах жидких дезинфицирующих средств методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с градиентным элюированием и спектрофотометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  10.02.2005

МВИ № 24-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации сероводорода в атмосферном воздухе.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.09.2001

МВИ № 25-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации оксидов серы в атмосферном воздухе
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.09.2001

МВИ № 1-99 (ВНИИМС) Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1 диметилгидразина в образцах природных вод методом ионной хроматографии с вольтамперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  15.10.1999

МВИ № 102-08 (взамен МВИ № 3-02*) Методика выполнения измерений массовой концентрации нитрозодиметиламина (НДМА) в природной воде методом обращенно-фазовой высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  21.10.2008

МВИ № 103-08 (взамен МВИ № 1-02*) Методика выполнения измерений массовой доли нитрозодиметиламина (НДМА) в почве методом обращенно-фазовой высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  21.10.2008

МВИ № 108-08 (взамен МВИ № 37-02*) Методика выполнения измерений массовой доли несвязанного 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в образцах мягких частей растений методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  21.10.2008

МВИ № 109-08 Методика выполнения измерений массовой доли кислоторастворимой формы 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в почве методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  21.10.2008

МВИ № 2-02 Методика выполнения измерений массовой доли тетраметилтетразена (ТМТ) в образцах почв методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  17.03.2002

МВИ № 26-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации оксидов азота в атмосферном воздухе.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.09.2001

МВИ № 33-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации паров керосина Т-1 в почвах.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.09.2001

МВИ № 34-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации паров керосина Т-1 в атмосферном воздухе.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.09.2001

МВИ № 34-02 Методика выполнения измерений массовой доли НДМГ в образцах мышечной ткани методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.10.2002

МВИ № 35-02 Методика выполнения измерений массовой доли НДМГ в моче методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.10.2002

МВИ № 36-02 Методика выполнения измерений массовой доли НДМГ в крови методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.10.2002

МВИ № 37-08 Методика выполнения измерений массовой доли углеводородного горючего "Нафтил" в почве методом газовой хромато-масс-спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  05.03.2008

МВИ № 38-02 Методика выполнения измерений массовой доли несвязанного НДМА в образцах мягких частей растений методом ОФ ВЭЖХ со спектрофотометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.10.2002

МВИ № 39-03 Методика выполнения измерений массовой доли несвязанного 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в образцах мягких частей растений методом ионной хроматографии с предварительным on-line концентрированием и амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.03.2003

МВИ № 4-02 Методика выполнения измерений массовой концентрации тетраметилтетразена (ТМТ) в образцах природных вод методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  17.03.2002

МВИ № 4-99 (ВНИИМС) Методика выполнения измерений массовой концентрации анионов (фторидов, хлоридов, нитритов, нитратов, фосфатов и сульфатов) при их совместном присутствии в природных и очищенных сточных водах методом ионной хроматографии.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  15.10.1999

МВИ № 41-01 Методика выполнения измерений массовой доли подвижных форм 1.1-диметилгидразина в пробах почвы методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  12.11.2001

МВИ № 45-03 Методика выполнения измерений летучих фенолов в сточных водах предприятий целлюлозно-бумажной промышленности способом газо-жидкостной хроматографии.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.03.2003

МВИ № 57-05 Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1-диметилгидразина, гидразина, метилгидразина и тетраметилтетразена в образцах природных вод методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  14.10.2005

МВИ № 81-05 Методика выполнения измерений массовой доли 1,1-диметилгидразина в почве методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  23.11.2005

МВИ №28-04 Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1-диметилгидразина в образцах природных вод методом ионной хроматографии с предварительным on-line концентрированием и амперометрическим детектированием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  12.09.2004

МВИ №29-04 Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1-диметилгидразина в атмосферном воздухе методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  12.09.2004

МВИ №40-03 Методика выполнения измерений массовой доли подвижных форм 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в образцах почв методом ионной хроматографии с предварительным on-line концентрированием и амперометрическим детектированием.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМС
Дата аттестации:  20.03.2003

Методика анализа кристаллической структуры нанокристаллитов на электронном просвечивающем микроскопе LEO912AB, Karl Zeiss.

Методика анализа текстуры материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методика выполнения измерений среднего времени жизни люминесценции на спектральном комплексе на базе спектрографа SOLAR TII и монохроматора МДР 12 для исследования оптических свойств наноматериалов

Методика изготовления ультратонких и полутонких срезов объектов для электронной микроскопии с помощью ультратома Leica Ultracut-R.

Методика измерений дисперсии показателя преломления наноструктурированных образцов методом спектроскопии пропускания и отражения в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах. МИ №26/11-01.00276-2008
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  19.10.2011

Методика измерений значений нелинейнооптической восприимчивости для процессов самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниках методом накачка-зонд. МИ №25/11-01.00276-2008
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  19.10.2011

Методика измерений методом кросс-корреляционной спектроскопии значений времени жизни бегущих поверхностных плазмонов, возбуждаемых в пленках благородных металлов нанометровой толщины при резонансной геометрии возбуждения МИ №65/11 01.00276-2008
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  30.11.2011

Методика измерений нелинейной восприимчивости третьего порядка для процесса самовоздействия света методом анализа профиля лазерного пучка №ФР.1.27.2010.07802 в реестре методик измерений, св. об атт. № 12/2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика измерений нелинейных восприимчивостей второго и третьего порядков для процессов генерации второй и третьей оптических гармоник №ФР.1.27.2010.07801 в реестре методик измерений, св. об атт. № 11/2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика измерений спектров пропускания и отражения одномерных и трехмерных фотонных кристаллов с помощью монохроматора/спектрографа SOLAR LS M266 №ФР.1.27.2010.07800 в реестре методик измерений, св. об атт. № 10/2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика измерений трехмерного пространственного распределения интенсивности локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов №ФР.1.27.2010.07804 в реестре методик измерений, св. об атт. № 13/2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика измерений трехмерного пространственного распределения поляризационных характеристик локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов №ФР.1.27.2010.07803 в реестре методик измерений, св. об атт. № 14/2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика измерения вольтамперных и частотных характеристик проводников на электрохимической системе потенциостат Solartron 1287/анализатор частот Solartron 1255B.

Методика измерения времени релаксации люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer

Методика измерения квантового выхода люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer.

Методика измерения концентрации веществ на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.

Методика измерения коэффициента отражения на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.

Методика измерения коэффициента пропускания на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.

Методика измерения оптической плотности на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.

Методика измерения полевых зависимостей намагниченности в интервале температур 2 - 350 К в полях до 6,5 Т на SQUID магнетометре Cryogenic S700.

Методика измерения потери массы (стандарт ISO/CD 11358) на термовесах NETZSCH TG 209 F1 ***

Методика измерения проводимости и емкости наноструктур на различных частотах

Методика измерения релаксационных зависимостей намагниченности в интервале температур 2 - 350 К в полях до 6,5 Т на SQUID магнетометре Cryogenic S700.

Методика измерения спектров диффузного отражения веществ в ИК диапазоне длин волн на Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.

Методика измерения спектров диффузного отражения веществ и материалов на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.

Методика измерения спектров комбинационного рассеяния света на приставке FRA-106 к Фурье-спектрометру Equinox 55, Bruker.

Методика измерения спектров люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer.

Методика измерения спектров нарушенного полного внутреннего отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.

Методика измерения спектров отражения веществ в ИК диапазоне длин волн на Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.

Методика измерения спектров поглощения твердых, жидких и газообразных веществ в широком диапазоне длин волн (ИК, дальнем и ближнем ИК, видимом ) на Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.

Методика измерения спектров ЯМР высокого разрешения на различных ядрах в широком диапазоне температур вплоть до -100 С на ЯМР-спектрометре Bruker AVANCE 400.

Методика измерения температурных зависимостей намагниченности в постоянном магнитном поле в интервале температур 2 - 350 К в полях до 6,5 Т на SQUID магнетометре Cryogenic S700.

Методика измерения теплоемкости индивидуальных веществ (стандарт ASTM E 1269 - 95) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix.

Методика измерения теплоемкости индивидуальных веществ (стандарт ASTM E 1269 - 95) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix***

Методика измерения ширины запрещенной зоны полупроводников на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.

Методика измерения электропроводности наноматериалов на установке для измерения электрофизических параметров наноматериалов

Методика измерения эффективности люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer.

Методика исследования кристаллической структуры веществ на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol.

Методика калибровки. Счетчик фотонов Hamamatsu H7421-40. № МК 01-2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика калибровки. Фотоэлектронный умножитель Hamamatsu H9858-20. № МК 02-2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП “ВНИИОФИ»
Дата аттестации:  14.09.2010

Методика количественного фазового анализа материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методика компьютерного редактирования изображений структур органов животных, полученных на микроскопе Axioplan-2 Imaging.

Методика компьютерной обработки данных спектрофотометра Specord 50 PC, полученных в диапазоне 200-430 нм

Методика локального элементного анализа состава материалов на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.

Методика определдения содержания вулканизаторов и неэкстрагируемых наполнителей методом термогравиметрии в резинах и их производных

Методика определения количественного элементного состава растворов и жидких смесей на атомно-эмиссионном спектрометре Optima 5300 (Perkin Elmer) с индуктивно связанной плазмой.

Методика определения количественного элементного состава твердых веществ на атомно-эмиссионном спектрометре Optima 5300 (Perkin Elmer) с индуктивно связанной плазмой и системой лазерной абляции Solis 500.

Методика определения концентрации и g-фактора парамагнитных центров в твердотельных наноматериалах с помощью спектрометра электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12

Методика определения обычной температуры стеклования метолдом термического анализа в пластмассах и резинах

Методика определения параметров кристаллической решетки веществ на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методика определения параметров микроструктуры материалов на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol

Методика определения параметров микроструктуры материалов на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.

Методика определения площади удельной поверхности распределения пор по размерам и толщины адсорбционных слоев пористых веществ на анализаторе поверхности QuantaChrome Nova 4200e.

Методика определения размеров и морфологии частиц на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol.

Методика определения размеров и морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.

Методика определения размеров кристаллитов и микродеформаций материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методика определения содержания экстрагирующегося растворителя в резинах

Методика определения степени кристалличности материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методика определения строения комплексов переходных металлов с органическими лигадами различного строения и количественного состава смесей таких комплексов на жидкостном хроматомасс-спектрометре с двойной фокусировкой1100LC.

Методика определения строения химических соединений и механизмов химических процессов в конденсированных средах на ЯМР-спектрометре Bruker AVANCE 400.

Методика определения суммарного содержания примесей в фармацевтических препаратах (стандарт ASTM E 928-85) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix.

Методика определения суммарного содержания примесей в фармацевтических препаратах (стандарт ASTM E 928-85) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix***

Методика определения температурной зависимости пороводимости на электрохимической системе потенциостат Solartron 1287/анализатор частот Solartron 1255B.

Методика определения температуры и энтальпии фазовых переходов между конденсированными фазами (стандарт ISO/CD 11357-1).на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix.

Методика определения температуры и энтальпии фазовых переходов между конденсированными фазами (стандарт ISO/CD 11357-1).на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix***

Методика определения фазового состава материалов на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol.

Методика определения фазового состава материалов на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.

Методика определения фазового состава наноструктурированных материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методика определения элементного состава органических и полимерных пленок на электронном просвечивающем микроскопе LEO912AB, Karl Zeiss.

Методика получения объемного изображения органов объекта с помощью метода иммунофлюоресценции на инвертированном микроскопе Axiovert 200M.

Методика проведение полного дифференциально-термического и термогравиметрического анализа материалов на термоаналитическом комплексе Diamond Pyris TG/DTA.

Методика проведения измерений концентрации парамагнитных дефектов на ЭПР-спектрометре ELEXSYS-E500 BRUKER.

Методика проведения измерений оптического пропускания и отражения на инфракрасном спектрометре с Фурье преобразованием Perkin Elmer RX-1.

Методика проведения измерений оптического пропускания и отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.

Методика проведения измерений сигнала второй гармоники от излучения фемтосекундного лазера на кристалле хром-форстерита.

Методика проведения измерений спектров абсолютного коэффициента отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.

Методика проведения измерений спектров отражения тонких пленок при переменных углах падения и отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.

Методика проведения измерения спектров нарушенного полного внутреннего отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.

Методика профильного количественного элементного анализа твердых веществ на атомно-эмиссионном спектрометре Optima 5300 (Perkin Elmer) с индуктивно связанной плазмой и системой лазерной абляции Solis 500.

Методика уточнения кристаллической структуры веществ с использованием полнопрофильного анализа на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.

Методики вольтамперометрии (линейная, циклическая), хроноамперометрии и хронопотенциометрии., электрохимической спектроскопия импеданса для количественной характеристики электродных процессов и материалов.

Методики определения клеточных структур с изображений, полученных на сканирующем и просвечивающем электронных микроскопах JEM-1011 и JSM-6380LA.

Методики определения коэффициентов само- и гетеродиффузии в кристаллы дисперсных фаз при 280-360 К с помощью изотопного обмена и сцинтилляционного спектрометра модель LS 6500

Методики определения радионуклидного состава жидких и твердых тел и фонового содержания нуклидов в различных средах на базе сцинтилляционного спектрометра модель LS 6500

Методики определения содержания и распределения радионуклидов на поверхности твердых тел авторадиографическим методом и методами радионуклидной спектрометрии на базе сцинтилляционного спектрометра модель LS 6500

Методики проведения многопараметрического анализа по результатам проточной цитометрии на приборе FC500 (проточный цитометр)

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран