Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Учебно-научное объединение «Электроника»»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП «УНО Электроника»

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский технологический университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2004

Сайт ЦКП: http://www.nano.fel.mirea.ru/ckp/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 119454, г. Москва, пр-т Вернадского, д.78

Руководитель ЦКП:

  • Сигов Александр Сергеевич, доктор физико-математических наук, профессор, академик РАН
  • +7 (495) 4347474
  • sigov@mirea.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Комплекс научного оборудования ЦКП «УНО «Электроника» Московского технологического университета (МИРЭА) позволяет реализовать научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию функциональных наноматериалов для устройств микро-, оптоэлектроники и фотоники, проводить комплексные исследования их структуры и основных функциональных характеристик методами электронной, атомно-силовой, оптической и нелинейно-оптической микроскопии, оптической и нелинейно-оптической микроскопии ближнего поля, методами генерации второй оптической гармоники, оптической спектроскопии отражения/пропускания, однофотонной и двухфотонной люминесценции, в том числе – в области низких температур.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Фундаментальные исследования в области микро-, опто- и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, квантовой электроники и электродинамики;
  • Исследования в области разработки электронной и оптоэлектронной компонентной базы, материалов и функциональных элементов сверхвысокочастотной оптоэлектроники;
  • Исследования в области информационно-телекоммуникационных систем;
  • Разработка методов и материалов для генерации и детектирования терагерцового излучения;
  • Разработка методов и материалов сверхбыстрой нанофотоники и наноплазмоники;
  • Подготовка научных кадров высшей квалификации.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 16 ед.)

Анализатор спектра сигналов СВЧ-диапазона
Марка:  Е4448А
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Высокочувствительная камера ORCA-flash 4.0
Марка:  ORCA-flash 4.0
Фирма-изготовитель:  Hammamatsu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Марка:  E5071B, E8363B, 8341B ;
Фирма-изготовитель:  Agilent Tecnologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Марка:  optCRYO105
Фирма-изготовитель:  ЗАО «РТИ технологии, приборы, материалы»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Литограф e_LiNE plus system
Марка:  e_LiNE plus system
Фирма-изготовитель:  RAITH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Монохроматор Shamrock 500i
Марка:  Shamrock
Фирма-изготовитель:  Andor Technology plc.
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Марка:  KIT50i
Фирма-изготовитель:  Авеста-проект
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Марка:  ДРОН-3, ДРОН-4
Фирма-изготовитель:  Буревестник
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1980
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Марка:  Quanta 200 3D FIB
Фирма-изготовитель:  FEI
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Марка:  ASP-150
Фирма-изготовитель:  Авеста-проект
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Марка:  PEM-100
Фирма-изготовитель:  HINDS-Instrument
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Марка:  Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Фирма-изготовитель:  Авеста-проект
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s (WITec)
Марка:  alpha 300s
Фирма-изготовитель:  WITec
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка ВЧ-распыления
Марка:  STE MS46
Фирма-изготовитель:  ATC - Semiconductor & Technology Equipment
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Марка:  MaiTai
Фирма-изготовитель:  Spectra Physics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП: (номенклатура — 12 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Экспериментальные исследования и картирование нелинейно-оптических свойств материалов методом нелинейно-оптической микроскопии дальнего поля. Исследование азимутальных, температурных и поляризационных зависимостей интенсивности ВГ. Исследование сегнетоэлектрических фазовых переходов в тонкопленочных материалах.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Компьютерное моделирование физических процессов методом конечных элементов: распределение электромагнитных полей в упорядоченных наноструктурах и фотонных кристаллах, двумерных графеноподобных структурах и мультислойных структурах; распределение температуры и механических напряжений при локальном нагреве и проч.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование люминесценции в микро- и наноструктурированных материалах, в т.ч. в области низких температур

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Экспериментальные исследования и картирование нелинейно-оптических свойств тонкопленочных (нано)материалов. Локальные исследования методом генерации второй оптической гармоники процессов переключения в сегнетоэлектрических и мультиферроидных материалах при приложении электрического поля в планарной геометрии.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование кинетики релаксации фотовозбужденных процессов в функциональных (нано)материалах методом спектроскопии временного разрешения в диапазоне 0 – 500 пс.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследования структурных параметров твердотельных материалов

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Исследование и измерение параметров элементов и устройств радиофотоники: амплитудные, фазовые, шумовые характеристики модуляторов, дефлекторов, мультиплексоров и других элементов радиофотоники

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Исследование параметров и характеристик элементов и устройств СВЧ-электроники

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Локальные исследования свойств материалов методом сканирующей конфокальной оптической микроскопии.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Экспериментальные исследования спектральных свойств (люминесценция, спектроскопия отражения и пропускания) наноструктурированных материалов методом фемтосекундной лазерной спектроскопии с высоким пространственным разрешением по одной угловой и двум линейным координатам

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Безопасность и противодействие терроризму; Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Экспериментальные исследования свойств материалов методом терагерцовой спектроскопии пропускания (0,5 – 5 ТГц).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Экспериментальные исследования структуры материалов методом электронной микроскопии: топография поверхности, геометрические параметры структуры, локальное травление фокусированным ионным пучком и др.

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 13 ед.)

Методика терагерцовой спектроскопии пропускания (0,5 - 5 ТГц)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  30.06.2015
Методика уникальна:  нет

Методика оптического возбуждения-зондирования со сверхвысоким временным разрешением
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  30.06.2015
Методика уникальна:  нет

Методика фемтосекундной лазерной спектроскопии с высоким пространственным разрешением по одной угловой и двум линейным координатам
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  30.06.2015
Методика уникальна:  нет

Комплекс методик исследования свойств тонких пленок и наноструктур методом генерации второй оптической гармоники
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  17.12.2013
Методика уникальна:  нет

Методика исследования люминесценции в микро- и наноструктурированных материалах, в т.ч. в области низких температур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  18.03.2014
Методика уникальна:  нет

Комплекс методик исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  18.03.2014
Методика уникальна:  нет

Комплекс методик исследования структуры материалов на основе электронной и зондовой микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  17.12.2013
Методика уникальна:  нет

Комплекс методик исследования структуры материалов методом рентгеноструктурного анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  17.12.2013
Методика уникальна:  нет

Комплекс методик исследования структуры методом сканирующей оптической микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  17.12.2013
Методика уникальна:  нет

Комплекс методик исследования структуры и свойств наноматериалов методом компьютерного моделирования
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  30.06.2015
Методика уникальна:  нет

Нелинейно-оптическая конфокальная микроскопия
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  17.12.2013
Методика уникальна:  для России

Методика измерения характеристик элементов радиофотоники
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  30.06.2015
Методика уникальна:  нет

Методика механической (сухой) и химической (жидкостной) эксфолиации слоистых полупроводников
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МИРЭА
Дата аттестации:  30.06.2015
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран