Центры коллективного пользования

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Учебно-научное объединение «Электроника»» (ЦКП «УНО Электроника»)

ЦКП создан в 2004 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Адрес
Руководитель
  • 👤Сигов Александр Сергеевич
  • 📞(495) 4347474
  • sigov@mirea.ru
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да1336.97
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московский технологический университет

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Комплекс научного оборудования ЦКП «УНО «Электроника» Московского технологического университета (МИРЭА) позволяет реализовать научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию функциональных наноматериалов для устройств микро-, оптоэлектроники и фотоники, проводить комплексные исследования их структуры и основных функциональных характеристик методами электронной, атомно-силовой, оптической и нелинейно-оптической микроскопии, оптической и нелинейно-оптической микроскопии ближнего поля, методами генерации второй оптической гармоники, оптической спектроскопии отражения/пропускания, однофотонной и двухфотонной люминесценции, в том числе – в области низких температур.

Направления научных исследований

  • Фундаментальные исследования в области микро-, опто- и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, квантовой электроники и электродинамики;
  • Исследования в области разработки электронной и оптоэлектронной компонентной базы, материалов и функциональных элементов сверхвысокочастотной оптоэлектроники;
  • Исследования в области информационно-телекоммуникационных систем;
  • Разработка методов и материалов для генерации и детектирования терагерцового излучения;
  • Разработка методов и материалов сверхбыстрой нанофотоники и наноплазмоники;
  • Подготовка научных кадров высшей квалификации.

Приоритетные направления
119454, г. Москва, пр-т Вернадского, д.78
📷

Оборудование (16)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Анализатор спектра сигналов СВЧ-диапазона
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Е4448А 2010
Литограф e_LiNE plus system
Германия RAITH e_LiNE plus system 2013
Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Россия Авеста-проект Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов 2015
Высокочувствительная камера ORCA-flash 4.0
Япония Hammamatsu ORCA-flash 4.0 2014
Монохроматор Shamrock 500i
Великобритания Andor Technology plc. Shamrock 2016
Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s (WITec)
Германия WITec alpha 300s 2012
Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Россия 2006
Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Соединённые Штаты Америки Agilent Tecnologies E5071B, E8363B, 8341B ; 2008
Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Соединённые Штаты Америки HINDS-Instrument PEM-100 2009
Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Россия Авеста-проект ASP-150 2008
Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Россия Авеста-проект KIT50i 2006
Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Соединённые Штаты Америки Spectra Physics MaiTai 2008
Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Россия Буревестник ДРОН-3, ДРОН-4 1980
Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Нидерланды FEI Quanta 200 3D FIB 2006
Установка ВЧ-распыления
Россия ATC - Semiconductor & Technology Equipment STE MS46 2004
Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Россия ЗАО «РТИ технологии, приборы, материалы» optCRYO105 2005

Услуги (12)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Исследование параметров и характеристик элементов радиофотоники
Информационно-телекоммуникационные системы
Терагерцовая спектроскопия
Индустрия наносистем
Исследование кинетики релаксации фотовозбужденных процессов в функциональных (нано)материалах
Индустрия наносистем
Исследование спектральных свойств наноструктурированных материалов
Индустрия наносистем
Исследование материалов методом генерации второй оптической гармоники
Индустрия наносистем
Исследование люминесцентных свойств материалов
Индустрия наносистем
Характеризация элементов и устройств СВЧ-электроники
Информационно-телекоммуникационные системы
Исследования структуры материалов методом электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурный анализ
Индустрия наносистем
Исследование свойств наноматериалов методом сканирующей оптической микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование свойств наноматериалов методом нелинейно-оптической микроскопии
Индустрия наносистем
Компьютерное моделирование свойств наноматериалов
Индустрия наносистем

Методики (13)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика измерения характеристик элементов радиофотоники МИРЭА 30.06.2015
Методика терагерцовой спектроскопии пропускания (0,5 - 5 ТГц) МИРЭА 30.06.2015
Методика оптического возбуждения-зондирования со сверхвысоким временным разрешением МИРЭА 30.06.2015
Методика механической (сухой) и химической (жидкостной) эксфолиации слоистых полупроводников МИРЭА 30.06.2015
Методика фемтосекундной лазерной спектроскопии с высоким пространственным разрешением по одной угловой и двум линейным координатам МИРЭА 30.06.2015
Комплекс методик исследования свойств тонких пленок и наноструктур методом генерации второй оптической гармоники МИРЭА 17.12.2013
Методика исследования люминесценции в микро- и наноструктурированных материалах, в т.ч. в области низких температур МИРЭА 18.03.2014
Комплекс методик исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники МИРЭА 18.03.2014
Комплекс методик исследования структуры материалов на основе электронной и зондовой микроскопии МИРЭА 17.12.2013
Комплекс методик исследования структуры материалов методом рентгеноструктурного анализа МИРЭА 17.12.2013
Комплекс методик исследования структуры методом сканирующей оптической микроскопии МИРЭА 17.12.2013
Комплекс методик исследования структуры и свойств наноматериалов методом компьютерного моделирования МИРЭА 30.06.2015
Нелинейно-оптическая конфокальная микроскопия МИРЭА 17.12.2013

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий