Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Томский региональный центр коллективного пользования научным оборудованием

Сокращенное наименование ЦКП: ТРЦКП ТГУ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Томский государственный университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2006

Сайт ЦКП: http://www.ckp.tsu.ru/

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Томская область
  • 634050, г. Томск, пр. Ленина, д. 36

Руководитель ЦКП:

  • Алексеенко Кира Викторовна
  • +7 (3822) 783714
  • ckp@mail.tsu.ru

Контактное лицо:

  • Аронова Юлия Викторовна
  • +7 (3822) 783714
  • ckp@mail.tsu.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

ТРЦКП ТГУ, состоящий из нескольких специализированных центров проводит широкий круг исследований, измерений и испытаний: определение состава, структуры, физико-химических, механических, оптических, радиофизических и других свойств, биологической токсичности разнообразных материалов, продукции, отходов, природных материалов, вод и горных пород, наноматериалов различного состава и природы.

Штат ТРЦКП состоит из ~50 высококвалифицированных сотрудников, в основном кандидатов и докторов наук. Для проведения измерений/испытаний в центре помимо ГОСТов разработано более 50 методик в виде стандартов организации, из них более 20 прошли метрологическую аттестацию.

ТРЦКП ТГУ аккредитован для:
– проведения испытаний для целей обязательной и добровольной сертификации продукции в системе ГОСТ Р: химического состава полимеров, керамик, композитов, металлов; механических, теплофизических, оптических, размеров в нанометровом диапазоне для различных материалов, аттестат аккредитации РОСС RU.0001.22НН07;
– проведения аналитических исследований характеристик природных объектов, вод, полезных ископаемых, включая их токсичность, производственного контроля за состоянием атмосферного воздуха, промышленных выбросов, сточных, очищенных, питьевых и природных вод, почв, качественного анализа ювелирных вставок в системе аналитических лабораторий (СААЛ), аттестат аккредитации РОСС RU.0001.517686;
– определения размерных характеристик, химического состава и свойств различных наноматериалов в системе добровольной сертификации продукции наноиндустрии «Наносертифика», аттестат аккредитации РОСС RU.В50.04НЖ00.70.04.0026.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • химическое материаловедение, сорбция и катализ, геология, геохимия, радиофизические измерения;
  • исследования ионосферы;
  • проектирование технологических устройств, высокопроизводительные вычисления, безопасность наноматериалов, лазерная физика;
  • экология и генетика, охрана окружающей среды.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 81 ед.)

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD- 6000
Марка:  XRD 6000
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Автоматический комплекс для измерения микротвёрдости на базе микротвердомера Duramin-5
Марка:  Duramin-5
Фирма-изготовитель:  Stuers А/S
Страна происхождения:  Дания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Автоматический потенциометрический титратор Metrohm 809 titrando
Марка:  809 titrando
Фирма-изготовитель:  Metrohm
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Амплификатор с детекцией флуоресцентного сигнала в реальном времени
Марка:  AriaMxreal-Time PCR System
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор 3 Flex удельной площади поверхности и пористости
Фирма-изготовитель:  Micromeritics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор спектра акустического диапазона
Марка:  А17-U16
Фирма-изготовитель:  ЗАО "Электронные технологии и метрологические системы "
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор удельной поверхности и пористости Tristar 3020
Фирма-изготовитель:  Micromeritics Instrument Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор элементарный для одновременного определения СHNS и О
Марка:  Еuro EA3000
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Аналитический комплекс для определения качественного и количественного состава жидких компонентов
Марка:  API-2000
Фирма-изготовитель:  Dionex
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Аналитический комплекс для растровой электронной микроскопии и микроанализа на базе сканирующего электронного микроскопа VAGA II LMU
Фирма-изготовитель:  TESCAN
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Аппаратно-программный комплекс для проведения исследований функциональной диагностики состояния организма человека «Валента»
Марка:  МнСДП-2
Фирма-изготовитель:  ООО «Петр Телегин»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Атомно-силовой микроскоп с вакуумной камерой Solver HV
Марка:  Solver HV
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Векторный анализатор цепей Зав. № МY43030555
Марка:  Е8363В
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Весовой влагометр
Марка:  MX-50
Фирма-изготовитель:  A&D Company Ltd
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Водородный стандарт частоты и времени Ч1-1006
Марка:  VCH-1006
Фирма-изготовитель:  Vremya-CH
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Высокопроизводительный секвенатор
Марка:  NexSeq 500 Sequencing System
Фирма-изготовитель:  Illumina Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Высокоэффективный жидкостной хроматограф Agilent 1200 (комплектация 1260) в комплекте
Марка:  Agilent 1200
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologes
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Вычислитеьный кластер "Т-Платформы" HPC-0011025-001
Фирма-изготовитель:  Т-Платформы
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Газовый хроматограф
Марка:  Хроматэк-Кристалл 5000.2
Фирма-изготовитель:  ЗАО СКБ "Хроматэк"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Газовый хроматомасс- спектрометр GCMS - QP2020
Фирма-изготовитель:  Shimadzu Corporation
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Двухканальный магнитометрический комплекс
Марка:  ТМИ-02
Фирма-изготовитель:  ЦФПС ИОФ РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Дифрактометр рентгеновский Pananalytical X Petr Powder
Марка:  Pananalytical X Petr Powder
Фирма-изготовитель:  Pananalytical
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Жидкостной хроматограф Agilent LC 1200
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Измеритель модуля передачи и отражения Зав. № 07060415
Марка:  Р2М-04
Фирма-изготовитель:  ООО «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Измеритель модуля передачи и отражения Р2М-04 Зав. № 07060416
Фирма-изготовитель:  ООО «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Измеритель прочности гранул ИПГ-1М
Фирма-изготовитель:  ОАО "УНИХИМ с ОЗ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Измерительная линия
Марка:  ПК1-18-11-11
Фирма-изготовитель:  НПФ «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Измерительная линия
Марка:  НКММ-13-13Р
Фирма-изготовитель:  НПФ «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Интерферометр Маха-Цандера
Фирма-изготовитель:  ОАО "КДП"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Ионозонд
Марка:  Dinasond-21
Фирма-изготовитель:  Scio Associates Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Камера тепла-холода, напольное исполнение ТНС-80
Фирма-изготовитель:  ООО "Теста"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс аппаратно-программный на базе хромотографа "Кристал 5000.2"
Марка:  Кристал 5000.2
Фирма-изготовитель:  Йошкар-Ола, ЗАО СКБ "Хроматэк"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс для термоанализа и исследования оптических свойств материалов (Прибор синхронного ТГ-ДТА/ДСК анализа STA409РС)
Марка:  STA409РС
Фирма-изготовитель:  Netzsch-Geratebau GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс регистрации электромагнитных полей КНЧ диапозона
Марка:  Энцефалан ЭЭГР-19/26
Фирма-изготовитель:  ООО научно-производственно-конструкторская фирма «Медиком МТД»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Люминометр
Марка:  AutoLumat LB 953
Фирма-изготовитель:  BERTHOLD TECHNOLOGIES GmbH & Co. KG
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Масс-спектрометр квардупольно-времяпролетный высокого разрешения Agilent 1260/6550
Марка:  1260 Infinity LC с DAD
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой в комплекте с оборудованием для пробоподготовки
Марка:  Agilent 7500cх
Фирма-изготовитель:  Agilent Technology
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп Philips СМ-12 просвечивающий электронный
Марка:  СМ-12
Фирма-изготовитель:  Philips
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп биологический для лабораторных исследований
Марка:  Axio Observer Z2
Фирма-изготовитель:  Carl zeiss Microscopy GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп биологический для лабораторных исследований (микродиссектор)
Марка:  Axio Observer Z1
Фирма-изготовитель:  Carl zeiss Microscopy GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп биологический лазерный сканирующий для лабораторных исследований LSM 780
Марка:  LSM 780
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп для лаб исследований AxioImager М2
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микротом-криостат
Марка:  CryoStar NX70
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Набор для калибровки Зав. № MY 46040102
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Набор для тестирования диэлектриков Зав. № MY 44300187
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Настольная система наноиндентирования ТТХ-ТНТ с видеомикроскопом
Марка:  Nano Hardness Tester
Фирма-изготовитель:  CSM-Instruments SA
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Настольная универсальная электромеханическая испытателльная машина Instron 3369
Марка:  Instron 3369
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP7400Duo
Марка:  iCAP7400Duo
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Препаративный жидкостный хроматограф LC 20 Prominence с коллектором фракций в комплекте
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прецизионный измеритель LCR Agilent E498QA
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прибор дифференциальный сканирующей калориметрии DSC 204 F1 Phonix
Марка:  DSC 204 F1
Фирма-изготовитель:  NETZSCH-Geratebau GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прибор Концентратомер Биотестер-2
Марка:  Биотестер-2
Фирма-изготовитель:  ООО "Спектр-М"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прибор синхронного термического анализа STA 449
Марка:  STA 449 F1
Фирма-изготовитель:  Netzsch-Geratebau GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прибор совмещенного (синхронного) термического анализа STA 409 PC Luxx
Марка:  STA 409 PC Luxx
Фирма-изготовитель:  Netzsch-Geraetebau GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгенофлуоресцентный анализатор металлов
Марка:  Альфа-8000 LZX
Фирма-изготовитель:  Innov-X Systems Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Сетевая система сбора, систематизации и хранения данных ионосферного и лидарного мониторинга
Марка:  ISGM03
Фирма-изготовитель:  НТЦ "Геофизические измерения"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система InVia Basis для рамановского спектрального анализа
Марка:  InVia Basis
Фирма-изготовитель:  Renishaw
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система лазерной абляции Analyte Excite
Фирма-изготовитель:  Teledyne CETAC Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система нанесения проводящих покрытий из углерода и металлов с опциями ионного травления и определения толщины нанесенного покрытия с кварцевым резонатором и вакуумным насосом
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система рентгеновского волнодисперсионного микроанализа Oxford INCA Wave 500 Tescana Vega II LMU с системой INCA Wave микроскоп сканирующий электронный
Марка:  Tescan Vega II LMU с системой INCA Wave
Фирма-изготовитель:  TESCAN
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy350, интергрированная с VEGA II LMU
Марка:  VEGA II LMU + Oxford INCA Energy350 + Oxford INCA Wave + NoddllysMax
Фирма-изготовитель:  Oxford Instruments. TESCAN.
Страна происхождения:  Великобритания; Чехия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3D
Марка:  Quanta 200 3D
Фирма-изготовитель:  FEI Company
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система элементного анализа покрытий для лаборатории наноструктурных поверхностей и покрытий
Марка:  Profiler HR
Фирма-изготовитель:  ЗАО Найтек Инструментс
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Сканирующий электронный микроскоп SEM 515
Марка:  SEM 515
Фирма-изготовитель:  Philips
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр Agilent 4100
Марка:  Agilent 4100
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologes
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр ИК-Фурье исследовательского класса Nicolet 6700
Марка:  Nicolet 6700
Фирма-изготовитель:  Thermo Electron Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный последовательного действия XRF-1800
Марка:  XRF 1800
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр терагерцового диапазона СТД-21
Марка:  СТД-21
Фирма-изготовитель:  ОАО "КДП"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр ядерного магнитного резонанса Bruker Avance 3 HD MHz
Марка:  Avance 3 HD MHz
Фирма-изготовитель:  Bruker BioSpin GmbH
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Станция магнитовариационная цифровая
Марка:  Кварц 4
Фирма-изготовитель:  ООО «Импеданс»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Счетчик клеток портативный
Марка:  Scepter 2,0
Фирма-изготовитель:  Millipore Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Трибометр высокотемпературный ТНТ
Марка:  ТНТ-S-BE-0000
Фирма-изготовитель:  CSM-Instruments SA
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Универсальный твердомер с автоматическим датчиком силы по Виккерсу, Бринеллю, Роквеллу
Марка:  Duramin-500
Фирма-изготовитель:  Stuers А/S
Страна происхождения:  Дания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Устройство Зав. № 09006102
Марка:  НКММ-13-13Р
Фирма-изготовитель:  НПФ «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Устройство Зав. № 10007001
Марка:  НКММ-11-11Р
Фирма-изготовитель:  НПФ «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Фемтосекундная оптика и оборудование для построения терагерцового спектрометра
Фирма-изготовитель:  Newport
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Флуориметр
Марка:  Qubit 3
Фирма-изготовитель:  Invitrogen
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Хромато-масс-спектрометр
Марка:  Finnigan Trace DSQ
Фирма-изготовитель:  Thermo Electron Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Хроматограф Хроматэк-Кристалл 5000 исп 1(5)
Фирма-изготовитель:  ЗАО СКБ "Хроматэк"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Центральная станция ACUITY
Марка:  Welch Allyn Protocol
Фирма-изготовитель:  Welch Allyn Protocol
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор ED200
Марка:  Oxford ED 2000
Фирма-изготовитель:  Oxford Instruments
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП: (номенклатура — 321 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Транспортные и космические системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 100 ед.)

Измерение диэлектрической проницаемости плоских диэлектриков с помощью квазиоптического открытого резонатора. Учебно-методическое пособие.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  05.04.2009

МВИ № 001-ХМС-2007 «Методика выполнения измерений массовых долей элементов в горных породах методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой».
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ)
Дата аттестации:  09.06.2007

МВИ №08-47/200 масовых долей Zn, Pb, Sn, Ni, Cu, V, Cr в зольных остатках почв пород и торфов, методом пламенной атомно-эмиссионной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Аккредитованная метрологическая служба Томского Политехнического Университета
Дата аттестации:  09.02.2006

Методика количественного анализа фазового состава поверхностных слоев и тонких пленок рентгенографическим методом (СТО ТГУ 046 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  08.05.2009

Методика № 480-Х «Определение элементного состава природных и питьевых вод методом ICP-MS»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС)
Дата аттестации:  13.04.2006

Методика № 481-Х Определение общей ртути в природных и питьевых водах методом ICP-MS
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС)
Дата аттестации:  13.04.2006

Методика анализа элементного состава твердых материалов и нанопорошков рентгенофлуоресцентным методом. Правила пробоподготовки (СТО ТГУ 044-2009) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009
Методика уникальна:  нет

Методика аттестации рабочих мест по условиям труда
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГОСТ СССР, Росстандарт
Дата аттестации:  05.12.2008

Методика вертикального зондирования ионосферы Земли
Наименование организации, аттестовавшей методику :  АН СССР, АН РФ
Дата аттестации:  24.06.1998

Методика выполнения измерений массовой доли глиоксаля в водном растворе глиоксаля методом газовой хроматографии. МВИ № 224.09.11.038/2009
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ)
Дата аттестации:  30.09.2010

Методика выполнения измерений массовой доли титана, хрома, марганца, железа, никеля, меди, цинка, циркония, олова, свинца и висмута рентгенофлуоресцентным методом на анализаторе рентгенофлуоресцентном "ALPHA SERIES" (ФР.1.31.2008.04565)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика идентификации фазового состава по глубине неноструктурированных неметаллических нероганических покрытий с помошью рентгеновского дифрактометра (СТО ТГУ 097-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  10.06.2011

Методика изготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии с помощью сфокусированного ионного пучка (СТО ТГУ 043-2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика изготовления поперечных сечений с помощью сфокусированного ионного пучка (СТО ТГУ 040-2009) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009
Методика уникальна:  нет

Методика измерений критической силы нагрузки для оценки адгезионной прочности наноструктурированных неметаллических неорганических покрытий с использованием скретч-тестера (СТО ТГУ 093-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУН "УНИИМ"
Дата аттестации:  17.10.2011

Методика измерений массовых долей циркония и титана в материале стандартных образцов оксидных модификаторов черного и цветного
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  10.06.2011

Методика измерений массовых долей циркония и титана в пробах оксидных модификаторов черного и цветного литья "МС" методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии (СТО ТГУ 091-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  10.06.2011

Методика измерений микротвердости (по Виккерсу) градиентных наноструктурированных неметаллических неорганических покрытий с использованием нанотвердомера (СТО ТГУ 090-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  10.06.2011

Методика измерений удельной поверхности порошков методом мнотогочечного БЭТ. МВИ № 224.0078/01.00258/2010
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ)
Дата аттестации:  30.09.2010

Методика измерений фазового состава и структуры оксидов циркония и титана в модификаторах черного и цветного литья методом рентгеновской дифракции (СТО ТГУ 096-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  10.06.2011

Методика исследований кристаллической структуры материалов методом дифракции обратно рассеянных электронов (СТО ТГУ 042-2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика исследования емкостного контраста на сколах полупроводниковых структур со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии при подаче напряжения через структуру (СТО ТГУ 057 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика исследования коллагена кожи на наноуровне методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 055 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика исследования кости на наноуровне методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 056 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика исследования распределения контактной разности потенциала (поверхностного потенциала) на полупроводниковых сколах со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 059 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика исследования распределения падения напряжения на сколах полупроводниковых структур со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 058 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика исследования трехмерной топологии поверхности тонких пленок и твердых тел на микронном и субмикронном уровне методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 054 - 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

"Методика качественного анализа фазового состава поликристаллических и порошковых наноразмерных неорганических соединений рентгенографическим методом (СТО ТГУ 034 – 2009) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика определения размера кристаллитов и микроискажений кристаллической решетки по уширению профилей Брэгговских максимумов (СТО ТГУ 035 – 2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  20.04.2009

Методика определения физиологического состояния человека по данным ЭЭГ и ЭКГ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Росстандарт, МинСоцЗдравРозвитеие(сертифицировано)
Дата аттестации:  12.06.2004

методика определения экзо- и эндотерми ческих эффектов, потерь массы при термическом аналиизе горных пород минералов и руд
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  25.01.2013

Методика проведения исследований структуры поверхности твердого тела методом растровой электронной микроскопии (СТО ТГУ 041-2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  01.04.2009

Стали и чугуны. Методика измерения массовой доли элементов методом оптико-эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом .СТО ТГУ 128-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015
Методика уникальна:  для России

Лазерная микродиссекция. Методические рекомендации по выделению отдельных клеточных популяций из образцов опухолевой ткани. СТО ТГУ 148-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  АНО "Институт независимых экспертиз"
Дата аттестации:  28.12.2015

Энзимогистохимические исследования. Выявление активности β-d-галактозидазы в криостатных срезах. СТО ТГУ 147-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  АНО "Институт независимых экспертиз"
Дата аттестации:  28.12.2015

Лазерная конфокальная микроскопия. Правила и рекомендации по проведению измерений линейных размеров не флюоресцирующих объектов. СТО ТГУ 146-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  АНО "Институт независимых экспертиз"
Дата аттестации:  28.12.2015

Лазерная конфокальная микроскопия. Рекомендации по проведению съемки объектов, обладающих автофлюоресценцией. СТО ТГУ 145-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  АНО "Институт независимых экспертиз"
Дата аттестации:  28.12.2015

Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по изменению основных морфологических параметров высших наземных растений. СТО ТГУ 144-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по смертности тест-организма danio rerio. СТО ТГУ 143-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по смертности тест-организма равноресничных инфузорий paramecium сaudatum ehrenberg. СТО ТГУ 142-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по параметрам метаболической активности почвенной микрофлоры методом мультисубстратного тестирования. СТО ТГУ 141-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по смертности тест-организма daphnia magna straus. СТО ТГУ 137-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Плазма крови. Методика измерения массовой концентрации капецитабина методом высокоэффективной жидкостной хроматографии-тандемной масс-спектрометрии. СТО ТГУ 150-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Плазма крови. Методика измерения массовой концентрации рамиприла методом высокоэффективной жидкостной хроматографии-тандемной масс-спектрометрии. СТО ТГУ 149-2015
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  28.12.2015

Методика измерений массовых долей циркония и титана в материале стандартных образцов оксидных модификаторов черного и цветного литья методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии (СТО ТГУ 092-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  17.10.2011

МР 1.2.2566-09 Оценка безопасности наноматериалов IN VITRO и модельных системах IN VIVO 2009 г
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Главный государственный санитарный врач РФ Г.Г. Онищенко
Дата аттестации:  10.12.2009

МР 2.1.7.2297-07 Обоснование класса опасности отходов производства и потребления фитотоксичности
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Главный государственный санитарный врач РФ Г.Г. Онищенко
Дата аттестации:  28.12.2007

МУ 1.2.2634-10 Микробиологическая и молекулярно-генетическая оценка воздействия наноматериалов на представителей микробиоценоза.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Государственный комитет РФ по стандартизации и метрологии
Дата аттестации:  06.09.2010

МУК 4.1.1483-03 Определение содержания химических элементов в диагностируемых биосубстратах, препаратах и биологически активных добавках методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной аргоновой плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Санитарно-эпидемиологическая служба Российской Федерации
Дата аттестации:  30.06.2003

ПНД Ф Т 14.1:2:3:4.10-04, 16.1:2:3:3.7-04. (ФР.1.31.2009.06643) Методика определения токсичности проб поверхностных пресных, грунтовых, питьевых, сточных вод, водных вытяжек из почвы, осадков сточных вод и отходов по изменению оптической плотности культуры водорослей хлорелла
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ)
Дата аттестации:  28.03.2007

Правила испытания материалов на растяжение, сжатие и изгиб с использованием настольной электромеханической испытательной машины Instron 3369 (СТО ТГУ 067-2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  31.08.2009

Правила проведения исследований структуры кристаллических материалов методом просвечивающей электронной микроскопии (СТО ТГУ 039-2009)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  08.05.2009

СПМПМ № 114-м Кристалломорфологическийй анализ циркона
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС)
Дата аттестации:  26.07.2004

СПМПМ № 14-м Полуколличественное определение минерального состава шлихов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС)
Дата аттестации:  30.03.1998

СПМПМ № 18-м Полуколличественное определение минерального состава проб пртолочек
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС)
Дата аттестации:  24.06.1998

Металлы и сплавы. Методика определения температуры плавления, удельной теплоты плавления и теплоемкости
Методика уникальна:  для России

Порошковые материалы. Методика измерений удельной поверхности методом многоточечного БЭТ (СТО ТГУ 071-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  09.03.2017
Методика уникальна:  для России

Методика идентификации фазового состава по глубине наноструктурированных неметаллических нероганических покрытий с помошью рентгеновского дифрактометра (СТО ТГУ 097-2011)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Металлы, сплавы, композиционные, керамические и полимерные материалы. Методика проведения испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб с использованием настольной электромеханической испытательной машины Instron 3369 (СТО ТГУ 067-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Твердые тела и тонкие пленки. Методика исследования трехмерной топологии методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 054 - 2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Металлы и сплавы. Метод определения температуры плавления, удельной теплоты плавления и теплоемкости. (СТО ТГУ 045-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Твердые материалы и порошки. Методика анализа элементного состава рентгенофлуоресцентным методом. (СТО ТГУ 044-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Структура кристаллических материалов. Методика проведения исследований с помощью растрового электронного микроскопа. (СТО ТГУ 042-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Структура поверхности твердого тела. Методика проведения исследований с помощью растрового электронного микроскопа. (СТО ТГУ 041-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Структура кристаллических материалов. Методика проведения исследований с помощью просвечивающего электронного микроскопа. (СТО ТГУ 039-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

Структура кристаллических материалов. Методика проведения исследований с помощью просвечивающего электронного микроскопа. (СТО ТГУ 039-2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Методика уникальна:  для России

Металы и сплавы. Порошки. Тонкие пленки. Методика качественного и/или количественный анализа фазового состава, определение размера кристаллитов и микроискажений. (СТО ТГУ 158 – 2017)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ТГУ
Дата аттестации:  15.02.2017
Методика уникальна:  для России

СТО ТГУ 030-2009. Методика измерений магнитных параметров наноразмерных порошков ферритовых материалов по спектрам ферромагнитного резонанса.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  31.03.2009

СТО ТГУ 031 – 2009 Методика измерений эффективных значений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  01.04.2009

СТО ТГУ 032 – 2009 Методика измерений эффективных значений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  01.04.2009

СТО ТГУ 033 – 2009 Методика измерений частотных зависимостей магнитной проницаемости нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  31.03.2009

СТО ТГУ 034. Методика качественного анализа фазового состава поликристаллических и порошковых наноразмерных неорганических соединений рентгенографическим методом.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  16.04.2009

СТО ТГУ 046-2009. Методика качественного анализа фазового состава поверхностных слоев и тонких пленок рентгенографическим методом.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  07.04.2009

СТО ТГУ 048-2009 методика определения элементного состава горных пород методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  31.03.2009

СТО ТГУ 049-2009 Методика определения оксидов кремния, алюминия, магния, железа, кальция, титана, марганца, калия и натрия методом рентгенофлюорисцентного анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  31.03.2009

СТО ТГУ 053 – 2009 Методика измерения спектров комплексной магнитной проницаемости нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот. Прямоугольный объемный резонатор.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  01.04.2009

СТО ТГУ 063 – 2009 Методика определения материала и природы ювелирных вставок без оправы и в составе ювелирных изделий
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  27.05.2009

СТО ТГУ 064 – 2009 Методика измерения коэффициента отражения композитов на основе наноразмерных порошков ферритовых материалов в диапазоне частот 0.01 ÷ 4 ГГц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  01.04.2009

СТО ТГУ 079-2010 методика качественного анализа фазового состава порошковых моно- и полиминеральных фаз рентгенографическим методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  22.11.2010

СТО ТГУ 105-2012 Методика измерений массовой доли гликолевой кислоты в водном растворе методом жидкостной хроматографии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 106-2012 Методика измерений массовой доли молочной кислоты в водном растворе методом жидкостной хроматографии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 107-2012 Методика измерений массовых долей изомеров в растворе лактида поляриметрическим методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 108-2012 Методика измерений температуры плавления мономеров лактида и гликолида физическим методом с применением прибора фирмы Buchi
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 109-2012 Методика измерений массовых долей примесей в биоразлагаемых сополимерах атомно-абсорбционным методом (барий, медь, свинец, олово, хром, кадмий, железо, цинк)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 110-2012 Методика измерений массовой доли влаги в мономерах лактида и гликолида гравиметрическим методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 111-2012 Методика измерений массовых долей примесей, содержащих карбоксильную группу, в мономерах лактида и гликолида титриметрическим методом с потенциометрическим окончанием
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 112-2012 Методика измерений молекулярной массы сополимеров гликолевой и молочной кислот методом гель-хроматографии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  12.07.2012

СТО ТГУ 115-2012 Методика измерений срока рассасывания синтетических рассасывающихся хирургических нитей in vitrо
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет, Институт хирургии им. Вишневского
Дата аттестации:  19.12.2012

СТО ТГУ 116-2012 Методика измерений содержания остаточного CO2 после стерилизации синтетических рассасывающихся хирургических нитей
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  19.12.2012

СТО ТГУ 117-2012 Методика измерений жесткости синтетических хирургических нитей
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  19.12.2012

СТО ТГУ 118-2012 Методика измерений содержания антимикробной композиции в синтетических рассасывающихся хирургических нитях
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский государственный университет
Дата аттестации:  19.12.2012

ФР. 1.31.2005.01881. Методика определения токсичности проб вод (природных, хозяйственно-питьевых, промышленных сточных) экспресс-методом с применением прибора «Биотестер».
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Государственный комитет РФ по стандартизации и метрологии
Дата аттестации:  28.03.2007

ФР. 1.39.2007.03222. Методика определения токсичности воды и водных вытяжек из почв, осадков сточных вод, отходов по смертности и изменению плодовитости дафний.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы
Дата аттестации:  17.10.2005

ФР. 1.39.2010.09103 «Методика определения индекса токсичности нанопорошков, изделий из наноматериалов, нанопокрытий, отходов и осадков сточных вод, содержащих наночастицы, по изменению оптической плотности тест-культуры водоросли Сhlorella vulgaris Beijer»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ)
Дата аттестации:  12.11.2010

ФР.1.31.2012.12191 Методика измерений удельной поверхности порошков неорганических методом многоточечного БЭТ (СТО ТГУ 071-2009) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  03.09.2010
Методика уникальна:  нет

ФР.1.31.2012.12192 Методика выполнения измерений массовой доли этиленгликоля в водных растворах методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 084-2010) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  26.07.2011
Методика уникальна:  нет

ФР.1.31.2012.12193 Методика выполнения измерений массовой доли формальдегида в водных растворах методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 085-2010) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  05.09.2011
Методика уникальна:  нет

ФР.1.31.2012.12194 Методика выполнения измерений массовой доли глиоксаля в водных растворах методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 086-2010) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  18.08.2011
Методика уникальна:  нет

ФР.1.31.2012.12201 Методика измерений массовой доли глиоксаля в пробах кристаллического глиоксаля методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 094 – 2011) "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СТО ТГУ
Дата аттестации:  18.10.2011
Методика уникальна:  нет

ФР.1.39.2010.09102 «Методика определения индекса токсичности нанопорошков, изделий из наноматериалов, нанопокрытий, отходов и осадков сточных вод, содержащих наночастицы, по смертности тест-организма Daphnia magna Straus» "
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ)
Дата аттестации:  12.11.2010
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран