Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Электромагнитные, электромеханические и тепловые свойства твёрдых тел

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ЭЭТСТТ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Южный федеральный университет

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2010

Сайт ЦКП: http://ckp-ip.sfedu.ru

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Южный
  • Регион: Ростовская область
  • 344090, г. Ростов-на-дону, пр. Стачки, 194

Руководитель ЦКП:

  • Павелко Алексей Александрович, кандидат физико-математических наук
  • +7 (863) 2434066
  • aapavelko@sfedu.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 1Число публикаций, ед.: 11Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Фундаментальные и прикладные исследования электромагнитных, электромеханических и тепловых свойств твёрдых тел, находящихся в различных твердотельных состояниях, в том числе в микро и нано-пленках, на оборудовании, имеющимся в распоряжении ЦКП, в том числе исследования с целью поиска областей их возможного применения;
Получение объектов для исследований, находящихся в различных твердотельных состояниях: керамики и тонкие пленки.
Определение  степени совершенства кристаллической структуры веществ и материалов, находящихся в различных твердотельных состояниях, методами термоактивационной токовой спектроскопии.
Исследование элементного состава и химической связи на границах зерен сегнетокерамик и пленок и связи электронного строения поверхности с физическими характеристиками материалов.
Исследование физических свойств различного рода гетероструктур.
Получение и исследование электромагнитных, электромеханических и тепловых свойства тонких сегнетоэлектрических пленок.
Прикладные исследования по анализу отказов приборов полупроводниковой микроэлектроники.
Исследование фазовых переходов веществ, находящихся в твердотельном состоянии.
Контроль качества  монокристаллов, поликристаллов, керамики, тонких пленок и пр.
Исследование магнито-диэлектрических и пьезоэлектрических свойств материалов в широком диапазоне температур и частот.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

    сегнетоэлектричество, мультифункциональные материалы, изготовления и подготовки к исследованию объектов в различных твердотельных состояниях (керамика, «тонкие» и «толстые» плёнки); изучения микроструктуры объектов; исследования электрофизических свойств конденсированных сред.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование
  • Транспортные и космические системы

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 40 ед.):

Анализатор спектра Agilent E7405A
Марка:  Agilent E7405A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Весы аналитические CP 324S (Sortorius)
Марка:  CP 324S
Фирма-изготовитель:  Sortorius
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Высокоточный универсальный отрезной и шлифовальный станок UNIPOL1500 (MTI)
Марка:  UNIPOL1500
Фирма-изготовитель:  MTI Ltd
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Гидравлический пресс CCE40K3 Sartorius
Марка:  ССЕ40КЗ
Фирма-изготовитель:  Sortorius
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измеритель больших электросопротивлений
Марка:  Agilent 4339B
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измеритель ёмкости
Марка:  Agilent 4288A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измеритель ёмкости
Марка:  Agilent 4268A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измерительная система на базе широкополосного диэлектрического и импедансного спектрометра с температурным контроллером
Марка:  Novocontrol Сoncept-40 Systems
Фирма-изготовитель:  Novocontrol Technologies GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измерительный комплекс на базе двухлучевого интерферометра и анализатора сигналов TF
Марка:  Double Beam Laser Interferometer
Фирма-изготовитель:  Aixacct Systems GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комбинированный анализатор сигналов
Марка:  Agilent 4395A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Компактный измеритель LCR
Марка:  Agilent 4263B
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплект оборудования для измерения пьезомодулей dh d33
Марка:  PM300, PM300Н Systems Piezotest
Фирма-изготовитель:  Piezotest Ltd.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторная планетарная мельница сверхтонкого помола
Марка:  Fritsch pulverisette 6
Фирма-изготовитель:  Khimexpert
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроинтерферометр
Марка:  МИИ-4М ФОМ-2-16х
Фирма-изготовитель:  AZBI
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Низкотемпературный комплекс для исследований диэлектрических и пьезоэлектрических свойств материалов
Марка:  CCS-850
Фирма-изготовитель:  Janis Research Company
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Осциллограф запоминающий Wavesurfer 24 XS (Le Croy)
Марка:  Wavesurfer 24 XS
Фирма-изготовитель:  Le Croy
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Печь камерная
Марка:  LT30/ 1300
Фирма-изготовитель:  Nabertherm
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Печь с циркуляцией воздуха
Марка:  30/850 С
Фирма-изготовитель:  Nabertherm
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Пикнометр GeoPyc 1350 (Micrometrics)
Марка:  GeoPyc 1350
Фирма-изготовитель:  Micrometrics
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Прецизионный автоматический станок для резки пластин EC400 (MTI)
Марка:  EC400
Фирма-изготовитель:  MTI Ltd
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Прецизионный автоматический станок для шлифовки и полировки UNIPOL1502 (MTI)
Марка:  UNIPOL1502
Фирма-изготовитель:  MTI Ltd.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Прецизионный анализатор импеданса цифровой
Марка:  WK 6500B
Фирма-изготовитель:  Wayne Kerr Electronics
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный анализатор импеданса цифровой
Марка:  WK 6520B
Фирма-изготовитель:  Wayne Kerr Electronics
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный анализатор импеданса цифровой
Марка:  WK 6505B
Фирма-изготовитель:  Wayne Kerr Electronics
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный измеритель LCR
Марка:  Agilent 4285A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный измеритель LCR
Марка:  Agilent E4980A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный измеритель импеданса
Марка:  Agilent 4294A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный измеритель импеданса
Марка:  Agilent 4294A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный станок алмазной проволочной резки
Марка:  STX-602
Фирма-изготовитель:  MTI Ltd
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 (Thermo Fisher Scietific)
Марка:  ESCALAB - 250 (зав № А 1322)
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scietific
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Система измерения электромеханических характеристик
Марка:  PRAP
Фирма-изготовитель:  Tasi Technical Software
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Универсальный оптический микроскоп Axio Imager.Z1m (Сarl Zeiss)
Марка:  Axio Imager.Z1m
Фирма-изготовитель:  Сarl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для получения тонких эпитаксиальных плёнок сложных оксидов
Марка:  Плазма 50СЭ
Фирма-изготовитель:  ООО «ЭЛИТЕХ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка полировки Saphir (Sartorius)
Марка:  Saphir
Фирма-изготовитель:  Sartorius
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Цифровой микроскоп EQ-MM500T-USB (MTI)
Марка:  EQ-MM500T-USB
Фирма-изготовитель:  MTI Ltd.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Частотомер
Марка:  Agilent 53132A
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Широкополосный тестер
Марка:  APC Wide-Range d33
Фирма-изготовитель:  APC International Ltd.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Широкополосный тестер
Марка:  APC Wide-Range d33
Фирма-изготовитель:  АРС International
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Электропечь
Марка:  SNOL 7/2/1300 C
Фирма-изготовитель:  SNOL
Страна происхождения:  Латвия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Электропечь
Марка:  SNOL 30/1300 C
Фирма-изготовитель:  SNOL
Страна происхождения:  Латвия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 5 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 9 ед.):

ГОСТ 12.1.003-83. Система стандартов безопасности труда . Шум. Общие требования безопасности.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Утверждён и введён в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 06.06.83 №2473
Дата аттестации:  06.06.1983

ГОСТ 19880-74. Электротехника. Основные понятия. Термины и определения.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Утверждён Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 19.06.74 № 1502 дата введения установлена
Дата аттестации:  19.06.1974

ГОСТ 21515-76. Материалы диэлектрические. Термины и определения. МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Утверждён Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 29.01.76 № 250 дата введения установлена
Дата аттестации:  29.01.1976

ГОСТ 8.358-79. Методика выполнения измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот 0,2-1 ГГц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Утверждён и введён в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 12.06.79 №2112
Дата аттестации:  12.06.1979

ГОСТ 8.417-2002. Государственная система обеспечения единства измерений. Единицы величин.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Принят Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол №22 от 06.11.2002)
Дата аттестации:  01.09.2003

Методика экспериментального определения комплексной диэлектрической проницаемости, тангенса угла диэлектрических потерь, температуры Кюри диэлектрических материалов в широком диапазоне температур (10÷1000) K, частот (10-3÷15٠106) Гц электрического измерительного поля. (Резниченко Л.А., Андрюшин К.П., Андрюшина И.Н., Вербенко И.А., Кубрин С.П., Павелко А.А., Павленко А.В., Юрасов Ю.И.)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Аттестат № 184 от 03.05. 2011. Методика ГСССД (зарегистрирована в Рос. н.-т. центре информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия под № ГСССД МЭ 184-2011 ФГУП «Стандартинформ». Гос. служба стандартных справочных данных (ГСССД). Главный научный метрологический центр «Стандартные справочные данные о физических константах и свойствах веществ и материалов» (ГНМЦ «ССД»).
Дата аттестации:  03.05.2011

Методика экспериментального определения пьезоэлектрических и упругих характеристик: пьезомодулей, коэффициентов электромеханической связи, механической добротности, модуля Юнга, скорости звука. пьезоэлектрического коэффициента (пьезочувствительности); – различных сегнетопьезоэлектрических материалов в широком диапазоне температур (10÷1000) K (Резниченко Л.А., Андрюшин К.П., Павленко А.В., Дудкина С.И., Вербенко И.А., Павелко А.А., Андрюшина И.Н., Кубрин С.П., Юрасов Ю.И. )
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Аттестат № 183 от 03.05. 2011. Методика ГСССД (зарегистрирована в Рос. н.-т. центре информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия под № ГСССД МЭ 183-2011 ФГУП «Стандартинформ». Гос. служба стандартных справочных данных (ГСССД). Главный научный метрологический центр «Стандартные справочные данные о физических константах и свойствах веществ и материалов» (ГНМЦ «ССД»).
Дата аттестации:  03.05.2011

МИ 1786-87 ГСИ. Основные параметры приемных пьезопреобразователей акустической эмиссии. Методика выполнения измерений
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НПО Дальстандарт
Дата аттестации:  13.10.1987

ОСТ 11 0444-87 Материалы пьезокерамические. Технические условия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Зарегистрирован Центральным Государственным фондом стандартов и технических условий № 8409118 от 01.12.87
Дата аттестации:  01.12.1987

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран