Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Лазерные методы исследования конденсированных сред, биологических объектов и мониторинга окружающей среды

Сокращенное наименование ЦКП: ЛАМИ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 2006

Сайт ЦКП: http://www.iacp.dvo.ru/structure/collective/centr4

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Дальневосточный
  • Регион: Приморский край
  • 690041, г. Владивосток, ул. Радио, д. 5

Руководитель ЦКП:

  • Кульчин Юрий Николаевич, доктор физико-математических наук, профессор, академик РАН
  • +7 (423) 2310439
  • director@iacp.dvo.ru

Контактное лицо:

  • Вознесенский Сергей Серафимович, доктор физико-математических наук, старший научный сотрудник
  • +7 (423) 2317595
  • vss@iacp.dvo.ru, ckp_lami@dvo.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Исследование оптических свойств природных и искусственных наноструктур, исследование взаимодействия лазерного излучения с наноструктурами;
  • Разработка новых лазерных методов создания наноматериалов;
  • Исследование взаимодействия лазерного излучения с биологическими объектами;
  • Использование методов лазерной спектроскопии для исследования конденсированных сред, включая разработку новых лазерных технологий исследования;
  • Использование лазерных технологий для зондирования атмосферы и океана, включая разработку новых лазерных методов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 23 ед.)

Аппаратурный комплекс для измерения гидрофизических и биооптических параметров морской воды
Марка:  Seabird
Фирма-изготовитель:  Seabird
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Аппаратурный комплекс для измерения концентрации углекислого газа в воде
Марка:  LI-840
Фирма-изготовитель:  Licor
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Гибридная установка ионного утонения с элек-тронно-лучевым комплексом для нанолитографии
Марка:  IM 4000
Фирма-изготовитель:  Hitachi
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс регистрации и обработки слабых оптических сигналов
Марка:  Andor
Фирма-изготовитель:  Andor Technology
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторный комплекс для получения тонких пленок на основе системы вакуумного напыления
Марка:  PVD-2EB2R11
Фирма-изготовитель:  ADVAVAC
Страна происхождения:  Канада
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерная система с блоком генерации третьей гармоники
Марка:  Solar LQ215 (2w)
Фирма-изготовитель:  СОЛАР ЛС
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный аналитический комплекс для спектральных исследований конденсированных сред и биологических объектов
Марка:  ИАПУ ДВО РАН
Фирма-изготовитель:  ИАПУ ДВО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерный комплекс для зондирования атмосферы и океана
Марка:  ИАПУ ДВО РАН
Фирма-изготовитель:  ИАПУ ДВО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерный комплекс на основе твердотельных лазерных модулей с диодной накачкой
Марка:  Melles Griot
Фирма-изготовитель:  Melles Griot
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический параметрический генератор с накачкой импульсным твердотельным Nd:YAG лазером, с модулем удвоения частоты для получения генерации в ультрафиолетовом диапазоне.
Марка:  VIBRANT B LD 355-UV
Фирма-изготовитель:  Opotek
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прибор для изготовления микропипеток, волоконно-оптических датчиков и нанораспыляющих кончиков (пуллер)
Марка:  P-2000
Фирма-изготовитель:  НПФ Биотехнологии
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Приборный комплекс для исследования объектов методом полного внутреннего отражения (с системой двух наноманипуляторов для трехмерного перемещения объектов
Марка:  Nikon Eclipse 90i
Фирма-изготовитель:  Nikon Instech Co., Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновская система малоуглового и широкоуглового рассеяния
Марка:  Hecus S3-MICRO
Фирма-изготовитель:  Hecus X-Ray Systems GmbH
Страна происхождения:  Австрия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий электронный микроскоп
Марка:  TM-1000
Фирма-изготовитель:  HITACHI
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сканирующий электронный микроскоп с EDS и WDX детекторами
Марка:  HITACHI S-3400N
Фирма-изготовитель:  HITACHI
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Спектральный эллипсометрический комплекс
Марка:  «ЭЛЛИПС-1891 САГ»
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Твердотельный лазер CFR200
Марка:  CFR200
Фирма-изготовитель:  Quantel
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Универсальный цифровой видео-микроскоп высокого разрешения
Марка:  HIROX KH-7700
Фирма-изготовитель:  HIROX
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка высокоскоростной регистрации оптических спектров
Марка:  HSS
Фирма-изготовитель:  L.O.T.-Oriel GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установки анализа структуры поверхности Nano DST
Марка:  Nano DST
Фирма-изготовитель:  Pacific Nanotechnology
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

УФ-ИК спектрофотометр
Марка:  Varian Cary 5000
Фирма-изготовитель:  Varian
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Фемтосекундный лазер
Марка:  Millennia PRO
Фирма-изготовитель:  Newport
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Флуориметр
Марка:  FLUOROLOG 3
Фирма-изготовитель:  HORIBA Scientific
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП: (номенклатура — 46 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Выполняются измерения содержания хлорофилла-а и растворенных органических веществ с применением проточного и погружаемого флуориметров.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 21 ед.)

ГОСТ Р 8.563-96 (2002, с попр. 2003) «Государственная система обеспечения единства измерений. Методика выполнения измерений».
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт России
Дата аттестации:  23.05.1996

ГОСТ Р ИСО 5725-2002  Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений 
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт России
Дата аттестации:  23.04.2002

Измерение оптических нелинейных и спектральных показателей биоминеральных структур. Методика выполнения исследований с помощью фемтосекундного лазера.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАПУ ДВО РАН
Дата аттестации:  12.12.2008

Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растровых электронных микроскопов.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИК РАН
Дата аттестации:  30.11.2004

Методика измерения концентрации хлорофилла «А» по спектрам лазерной индуцированной флуоресценции.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАПУ ДВО РАН
Дата аттестации:  12.12.2008

Методика измерения концентрации элементов, входящих в водные растворы (в частности концентрации элементов в морской воде и клетках фитопланктона) основанная на использовании калибровочных спектров ЛИС водных растворов с известными концентрациями элементов.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАПУ ДВО РАН
Дата аттестации:  12.12.2008

Методика определения концентрации измеряемых компонент атмосферы по спектрам комбинационного рассеяния для измерения газового состава атмосферы с использованием КР лидара, разработанная в Институте оптики атмосферы СО РАН и аттестованной Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский НИИ физико-технических измерений» (Дальстандарт г. Хабаровск).
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП Всероссийский НИИ физико-технических измерений
Дата аттестации:  24.10.2002

Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИК РАН
Дата аттестации:  10.03.2008

Микротвердость материалов. Методика выполнения измерений микротвёрдости с помощью микротвердомера ПМТ-3.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИК РАН
Дата аттестации:  30.11.2004

Ориентация на плоскости и позиционирование микроструктур панцирей диатомей. Методика использования оптического микроскопа NIKON ECLIPSE 90i с микроманипуляторной системой.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАПУ ДВО РАН
Дата аттестации:  08.04.2009

ПНД Ф 14.1:2:4.135—98 Методика выполнения измерений массовых концентраций металлов методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой в питьевой, природной, сточной водах и атмосферных осадках
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ "ФЦАО" ("ЦЭКА")
Дата аттестации:  18.09.2008

ПНД Ф 14.1:2:4.138—98 (издание 2004 г.)* Методика выполнения измерений массовой концентрации натрия, калия, лития и стронция в питьевых, природных и сточных водах методом пламенно-эмиссионной спектрометрии.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ "ФЦАО" ("ЦЭКА")
Дата аттестации:  23.03.2008

ПНД Ф 14.1:2:4.143—98 (издание 2004 г.)* Методика выполнения измерений массовой концентрации алюминия, бария, бора, железа, кобальта, марганца, меди, никеля, стронция, титана, хрома и цинка в питьевых, природных, сточных водах методом атомно-эмиссионной спекрометрии в индуктивно-связанной плазме.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ "ФЦАО" ("ЦЭКА")
Дата аттестации:  23.04.2004

ПНД Ф 16.1:2.2:2.3.36-02 Методика выполнения измерений валового содержания меди, кадмия, цинка, свинца, никеля и марганца в почвах, донных отложениях и осадках сточных вод методом пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ Центр экологического контроля и анализа
Дата аттестации:  06.08.2002

ПНД Ф 16.1:2.3:3.10-98 Методика выполнения измерений содержания ртути в твердых объектах методом атомно-абсорбционной спектрофотометрии (метод «метод холодного пара»)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Государственный комитет Российской Федерации по охране окружающей среды
Дата аттестации:  25.06.1998

Получения оцифрованных изображений структурированных биоминералов и биомиметических материалов и выполнение измерений по трем координатам. Методика использования цифрового видеомикроскопа высокого разрешения HIROX KH-7700.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАПУ ДВО РАН
Дата аттестации:  12.12.2008

Р 50.2.008-2001 (2002) Государственная система обеспечения единства измерений. Методики количественного химического анализа.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт России
Дата аттестации:  20.06.2001

Р 50.2.039-2004 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ЭФФЕКТИВНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ. Общие положения.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  27.10.2004

РД 52.10.243-92 Руководство по химическому анализу морских вод
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Комитетом по гидрометеорологии и мониторингу окружающей среды.
Дата аттестации:  28.04.1992

РД-50-674-88 Методические указания. Метрологическое обеспечение количественного химического анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Государственнsq комитет СССР по стандартам
Дата аттестации:  16.09.1988

ФГУП Всероссийский НИИ физико-технических измерений
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИК РАН
Дата аттестации:  30.11.2004

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран