Центры коллективного пользования

Центр коллективного пользования «Структурная диагностика материалов» ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН

ЦКП создан в 2002 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 3.1.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы»
Адрес
  • Центральный, г. Москва
  • 119333, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 59
  • 🌎http://crys.ras.ru/tsc
Руководитель
  • 👤Григорьев Юрий Васильевич
  • 📞(903) 0158536
  • ygrigoriev@mail.ru
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да302540.33
Базовая организация

Федеральное государственное учреждение «Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

ЦКП ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН специализируется на структурной диагностике широкого класса материалов, разрабатывает новые методы и экспериментальные методики. Центр выполняет заказы сторонних организаций по исследованию структуры различных  материалов, ведет самостоятельные фундаментальные и прикладные исследования.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • структурные исследования неорганических и органических объектов (в т.ч. биоорганических кристаллов);
  • исследования композитных кристаллических материалов;
  • исследование сверхгладких и наноструктурированных тонких пленок, многослойных структур;
  • исследование биологически активных частиц (биомакромолекулы, белки, вирусы);
  • исследования в области наноматериалов (нанокристаллы, улеродные нанотрубки, нанокапсулы, наночастицы и т.д.).

Приоритетные направления
Уникальные научные установки (УНУ) в составе оборудования ЦКП

Установка молекулярно-лучевой эпитаксии для изучения начальных стадий роста тонких пленок

119333, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 59
📷

Оборудование (23)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Россия ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический инс Nanoscan 3D 2015
Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Германия Thermo Sientific ICapQ 2014
Спектральный эллипсометр NIR 2.1 AGMS (UVISEL)
Япония UVISEL NIR 2.1 AGMS 2011
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии Pfeiffer Vacuum
Германия Pfeiffer Vacuum GmbH 2013
Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Соединённые Штаты Америки FEI Company Scios 2015
Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Соединённые Штаты Америки FEI Company Tecnai G2 SPIRIT 2007
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SuperX детектором
Соединённые Штаты Америки FEI Company Osiris 2014
Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Япония Rigaku Miniflex 600 2014
Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A ZG4 (NOVOCONTROL)
Германия NOVOCONTROL Technologies GmbH Novotherm-HT 1200 2013
Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Германия NETZSCH STA 449 F1 Jupiter 2013
Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Россия NT-MDT Solver Pro M 2010
УФ-спектрофотометр Lambda 650 (Perkin Elmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Lambda 650 2006
Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Соединённые Штаты Америки Beckman Coulter Delsa Nano 2009
Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Германия Leica Microsystems Leica TCS SPE 2008
Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами
Австрия HECUS X-ray system GmbH GRAZ SAXS-2D 2013
Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL)
Япония JEOL JSM-7401F 2006
Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku)
Япония Rigaku SmartLab 9kW 2013
Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)
Соединённые Штаты Америки FEI Quanta 200 3D FIB 2008
Порошковый рентгеновский дифрактометр X’PERT PRO MPD (PANalytical)
Нидерланды PANalytical X’PERT PRO 2006
Спектрофотометр Cary 5000 (Varian)
Соединённые Штаты Америки Varian Cary 5000 2009
Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford)
Великобритания Oxford diffraction Xcalibur S 2013
Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Россия NT-MDT NTEGRA prima 2015
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)
Соединённые Штаты Америки FEI Tecnai G30 ST 300кВ 2006

Услуги (21)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии
Индустрия наносистем
Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии с использованием двулучевого растрового электронного микроскопа
Индустрия наносистем
Проведение экспресс-анализа порошков и тонких пленок методом рентгеновской дифракции
Индустрия наносистем
Исследования качественного и количественного состава различных жидких и твердых материалов методом масс-спектрометрии и лазерного пробоотбора
Индустрия наносистем
Исследования тепловых характеристик и фазовых переходов, изменения массы материалов в различных газовых атмосферах и вакууме, а также измерения теплоемкости
Индустрия наносистем
Измерение диэлектрических характеристик, исследование ионной и протонной проводимости и других физико-химических свойств кристаллов при высоких температурах и в различных газовых атмосферах
Индустрия наносистем
Измерение массы различных микрообъектов и тонких пленок с разрешением до микрограммов
Индустрия наносистем
Электронографический структурный анализ отдельных нанокристаллов методом «полого конуса»
Индустрия наносистем
Получение изображения отдельных срезов по высоте цельного объекта с последующим восстановлением трехмерного изображения структуры объектов субмикронного размера методом конфокальной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование спектральных характеристик в диапазоне 190-3300 нм и примесного состава кристаллов, растворов органических и неорганических соединений, полиэлектролитных микро- и нанокапсул
Индустрия наносистем
Изготовление наноразмерных изделий методом резки ионным пучком в растровом электронном микроскопе с ионным пучком, а также «сварка» объектов (в т.ч. наноразмерных систем), создание электрических контактов между наноразмерными материалами различной природы
Индустрия наносистем
Электронно-дифракционное («на просвет» и «на отражение») исследование и анализ атомной структуры и микроструктуры, а также качества поверхности различных материалов, включая аморфные материалы
Индустрия наносистем
Рентгеновская томография биологических объектов
Науки о жизни
Рентгенофлуоресцентные исследования поверхности, приповерхностных слоев, многослойных систем и тонких пленок, в том числе, методом стоячих рентгеновских волн
Индустрия наносистем
Быстрое построение карт распределения элементов в образце методом энергодисперсионного анализа на просвечивающем электронном микроскопе, в том числе с высоким разрешением
Индустрия наносистем
Рентгенотопографические исследования реальной структуры кристаллов
Индустрия наносистем
Исследование методами оптической микроскопии 3D объектов и их деталей с разрешением до 350 нм
Индустрия наносистем
Структурные исследования методами рентгеновской дифрактометрии белков, неорганических материалов, порошков
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии
Индустрия наносистем
Исследования методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии атомной структуры, морфологии и химического состава широкого класса материалов, значимых для различных областей фундаментальной и прикладной науки, включая полупроводниковое материаловедение, катализ, минералогию и биологию
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Исследование методами оптической абсорбционной спектроскопии оптических характеристик, структуры и состава конденсированных материалов, в том – числе параметров монокристаллов и изделий на их основе
Индустрия наносистем

Методики (26)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Метрические параметры вогнутых сферических поверхностей. Методика измерений с помощью настольного рентгеновского дифрактометра (МВИ - 238/15 ПВ) Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 11.12.2015
Линейные размеры микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика измерений с помощью растрового электронно-ионного микроскопа Scios Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 11.12.2015
Линейные размеры объектов, межатомные и межплоскостные расстояния кристаллических материалов. Методика измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа TECNAI OSIRIS Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 11.12.2015
Параметры элементарной ячейки монокристаллов в области температур от 80 до 500 К. Методика измерения с помощью четырехкружного дифрактометра XcaliburS, оснащенного криосистемой Cobra (МВИ – 237/15 ПВ) Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 29.05.2015
Толщины слоев эпитаксиальных структур и тонких пленок на поверхности кристаллических подложек. Методика измерений с помощью рентгеновского дифрактометра SmartLab (МВИ – 236/15 ПВ) Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 29.05.2015
Анализатор размера и дзета-потенциала субмикронных частиц Delsa Nano (МК-69-ПВ) Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 12.12.2014 18:31:00
ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1- 20 нм. Регистрация интенсивностей рефлексов в 3-х мерных электронно-дифракционных картинах в режиме «полого конуса». Методика выполнения измерений с использованием приставки к ПЭМ "Spinning Star" Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 10.03.2009
ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-30 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 21.11.2005
ГСИ. Латеральные и метрические параметры поверхности диэлектрических кристаллов и пленок. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47 Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 10.03.2009
ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47 Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 21.11.2005
ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности сапфировых подложек. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 10.03.2009
ГСИ. Определение политипов монокристаллов карбида кремния. Методика выполнения измерений с помощьюрентгеновского дифрактометра Xcalibur S c координатным детектором Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 10.03.2009
Параметры кристаллической решетки поликристаллических материалов. Методика прецизионных измерений методом внутреннего стандарта с помощью рентгеновского дифрактометра X'PERT PRO Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 06.06.2013
ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемые в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа FIB Quanta 200 3D ОАО НИЦПВ 10.03.2009
Температуры и теплоты фазовых переходов первого рода. Методика измерений с помощью прибора синхронного термического анализа STA 499 F1 фирмы Netzsch ОАО НИЦПВ 06.06.2013
Электрические параметры образцов в различных газовых атмосферах при температурах от 25ºС до 1200ºС. Методика измерений с помощью установки Novotherm-1200 с анализатором импеданса Alpha-AT Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) 12.12.2014 18:31:00
ГСИ. Размер и частиц в жидкой суспензии. Методика выполнения измерений с помощью автоматического анализатора Delsa Nano НИИ ЦПВ 01.09.2010
ГСИ. Дифракционный анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра XPert PRO НИИ ЦПВ 10.03.2008
ГСИ. Метрические параметры полимерных микрокапсул в водных суспензиях. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Leica TCS SPE НИИ ЦПВ 10.03.2009
ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 90-490 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружного ренгеновского дифрактометра Xcalibur S НИИ ЦПВ 10.03.2009
ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus «SAXS System 3» НИИ ЦПВ 17.07.2006
ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью Сканирующей зондовой нанолаборатории "Ntegra Prima" НИИ ЦПВ 14.06.2007
ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX НИИ ЦПВ 09.11.0207
ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F НИИ ЦПВ 14.07.2006
ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47», МВИ-16ПВ (свидетельство об аттестации № 16ПВ от 30.11.2004 г. НИИЦПВ 30.11.2004
ГСИ. Спектральные показатели ослабления конденсированных сред в диапазоне длин волн 0,2 до 3,3 мкм. Методика выполнения измерений с помощью спектрофотометра Cary5000 фирмы Agilent Technologies ГНМЦ ОАО «НИЦПВ» 30.11.2004

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий