Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования «Структурная диагностика материалов» ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН

Базовая организация: Федеральное государственное учреждение «Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук»

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 2002

Сайт ЦКП: http://crys.ras.ru/tsc

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 119333, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 59

Руководитель ЦКП:

  • Григорьев Юрий Васильевич, кандидат физико-математических наук
  • +7 (903) 0158536
  • ygrigoriev@mail.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 34Число публикаций, ед.: 25Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 42.12

Краткое описание ЦКП:

ЦКП ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН специализируется на структурной диагностике широкого класса материалов, разрабатывает новые методы и экспериментальные методики. Центр выполняет заказы сторонних организаций по исследованию структуры различных  материалов, ведет самостоятельные фундаментальные и прикладные исследования.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • структурные исследования неорганических и органических объектов (в т.ч. биоорганических кристаллов);
  • исследования композитных кристаллических материалов;
  • исследование сверхгладких и наноструктурированных тонких пленок, многослойных структур;
  • исследование биологически активных частиц (биомакромолекулы, белки, вирусы);
  • исследования в области наноматериалов (нанокристаллы, улеродные нанотрубки, нанокапсулы, наночастицы и т.д.).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 22 ед.):

Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Марка:  Delsa Nano
Фирма-изготовитель:  Beckman Coulter
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Марка:  Solver Pro M
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Марка:  Scios
Фирма-изготовитель:  FEI Company
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Марка:  NTEGRA prima
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Марка:  STA 449 F1 Jupiter
Фирма-изготовитель:  NETZSCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Марка:  Tecnai G2 SPIRIT
Фирма-изготовитель:  FEI Company
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Марка:  ICapQ
Фирма-изготовитель:  Thermo Sientific
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Марка:  Nanoscan 3D
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический инс
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Марка:  Miniflex 600
Фирма-изготовитель:  Rigaku
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Марка:  Leica TCS SPE
Фирма-изготовитель:  Leica Microsystems
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Порошковый рентгеновский дифрактометр X’PERT PRO MPD (PANalytical)
Марка:  X’PERT PRO
Фирма-изготовитель:  PANalytical
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SuperX детектором
Марка:  Osiris
Фирма-изготовитель:  FEI Company
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)
Марка:  Tecnai G30 ST 300кВ
Фирма-изготовитель:  FEI
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)
Марка:  Quanta 200 3D FIB
Фирма-изготовитель:  FEI
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL)
Марка:  JSM-7401F
Фирма-изготовитель:  JEOL
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku)
Марка:  SmartLab 9kW
Фирма-изготовитель:  Rigaku
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford)
Марка:  Xcalibur S
Фирма-изготовитель:  Oxford diffraction
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами
Марка:  SAXS-2D
Фирма-изготовитель:  HECUS X-ray system GmbH GRAZ
Страна происхождения:  Австрия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрофотометр Cary 5000 (Varian)
Марка:  Cary 5000
Фирма-изготовитель:  Varian
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A ZG4 (NOVOCONTROL)
Марка:  Novotherm-HT 1200
Фирма-изготовитель:  NOVOCONTROL Technologies GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка молекулярно-лучевой эпитаксии Pfeiffer Vacuum
Фирма-изготовитель:  Pfeiffer Vacuum GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

УФ-спектрофотометр Lambda 650 (Perkin Elmer)
Марка:  Lambda 650
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Услуги ЦКП (номенклатура — 19 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование линейных размеров микрорельефа померхности

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение диэлектрических характеристик

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование микро- и нанорельефа, нанообъектов, состава, состав веществ и материалов (аналитический контроль)

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Коэффициент поглощения среды и определение размеров частиц в суспензии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Термогравиметрия и сканирующая калориметрия

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование элементного состава различных материалов на уровне примесей

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерения на оптическом лазерном конфокальном микроскопе

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Быстрое построение карт распределения элементов в образце методом энергодисперсионного анализа на просвечивающем электронном микроскопе, в том числе с высоким разрешением

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга осуществляется с помощью дифрактометра с вращающимся анодом Bruker Mar-345

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Осуществляется с помощью рентгеновского дифрактометра Smartlab Rigaku

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Рентгенофазовый экспресс-анализа состава порошков

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование линейных размеров микрорельефа поверхности и межплоскостных расстояний.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование линейных размеров и межплоскостных расстояний

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 26 ед.):

Анализатор размера и дзета-потенциала субмикронных частиц Delsa Nano (МК-69-ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  12.12.2014

ГСИ. Дифракционный анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра XPert PRO
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  10.03.2008

ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  09.11.0207

ГСИ. Латеральные и метрические параметры поверхности диэлектрических кристаллов и пленок. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемые в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа FIB Quanta 200 3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОАО НИЦПВ
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  14.07.2006

ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1- 20 нм. Регистрация интенсивностей рефлексов в 3-х мерных электронно-дифракционных картинах в режиме «полого конуса». Методика выполнения измерений с использованием приставки к ПЭМ "Spinning Star"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-30 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  21.11.2005

ГСИ. Метрические параметры полимерных микрокапсул в водных суспензиях. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Leica TCS SPE
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47», МВИ-16ПВ (свидетельство об аттестации № 16ПВ от 30.11.2004 г.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИЦПВ
Дата аттестации:  30.11.2004

ГСИ. Определение политипов монокристаллов карбида кремния. Методика выполнения измерений с помощьюрентгеновского дифрактометра Xcalibur S c координатным детектором
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 90-490 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружного ренгеновского дифрактометра Xcalibur S
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Размер и частиц в жидкой суспензии. Методика выполнения измерений с помощью автоматического анализатора Delsa Nano
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  01.09.2010

ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus «SAXS System 3»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  17.07.2006

ГСИ. Спектральные показатели ослабления конденсированных сред в диапазоне длин волн 0,2 до 3,3 мкм. Методика выполнения измерений с помощью спектрофотометра Cary5000 фирмы Agilent Technologies
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ОАО «НИЦПВ»
Дата аттестации:  30.11.2004

ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности сапфировых подложек. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  10.03.2009

ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  21.11.2005

ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью Сканирующей зондовой нанолаборатории "Ntegra Prima"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НИИ ЦПВ
Дата аттестации:  14.06.2007

Линейные размеры микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика измерений с помощью растрового электронно-ионного микроскопа Scios
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  11.12.2015

Линейные размеры объектов, межатомные и межплоскостные расстояния кристаллических материалов. Методика измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа FEI Osiris
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  11.12.2015
Методика уникальна:  нет

Электрические параметры образцов в различных газовых атмосферах при температурах от 25ºС до 1200ºС. Методика измерений с помощью установки Novotherm-1200 с анализатором импеданса Alpha-AT
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  12.12.2014

Метрические параметры вогнутых сферических поверхностей. Методика измерений с помощью настольного рентгеновского дифрактометра (МВИ - 238/15 ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  11.12.2015

Параметры кристаллической решетки поликристаллических материалов. Методика прецизионных измерений методом внутреннего стандарта с помощью рентгеновского дифрактометра X'PERT PRO
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  06.06.2013

Параметры элементарной ячейки монокристаллов в области температур от 80 до 500 К. Методика измерения с помощью четырехкружного дифрактометра XcaliburS, оснащенного криосистемой Cobra (МВИ – 237/15 ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  29.05.2015

Температуры и теплоты фазовых переходов первого рода. Методика измерений с помощью прибора синхронного термического анализа STA 499 F1 фирмы Netzsch
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОАО НИЦПВ
Дата аттестации:  06.06.2013

Толщины слоев эпитаксиальных структур и тонких пленок на поверхности кристаллических подложек. Методика измерений с помощью рентгеновского дифрактометра SmartLab (МВИ – 236/15 ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ)
Дата аттестации:  29.05.2015

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран