Центры коллективного пользования

Региональный Центр зондовой микроскопии коллективного пользования Рязанского государственного радиотехнического университета (РЦЗМкп)

ЦКП создан в 2003 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Адрес
  • Центральный, Рязанская область
  • 390005, г. Рязань, ул. Гагарина, д. 59/1
  • 🌎http://ckp.rsreu.ru/
Руководитель
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да142219.05
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Рязанский государственный радиотехнический университет»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Региональный Центр зондовой микроскопии коллективного пользования (РЦЗМкп) создан в 2003 году при поддержке Правительства Рязанской области на базе научно-исследовательских лабораторий ведущих кафедр Рязанского государственного радиотехнического университета (РГРТУ) (приказ от 10 апреля 2003 г. № 59).
Основной целью деятельности Центра является развитие методов диагностики наноматериалов и наноструктур, а также новых инновационных технологий (в том числе нанотехнологий), и внедрение их на производстве и в учебно-научный процесс университета. В настоящее время в структуру РЦЗМкп входят пять научно-исследовательских лабораторий: лаборатория атомно-силовой и туннельной микроскопии, лаборатория электронной сканирующей микроскопии, лаборатория масс-спектрометрии, лаборатория электрофизических измерений и химическая лаборатория. В настоящее время общая численность штатных сотрудников ЦКП составляет 25 человек. Средний возраст сотрудников РЦЗМкп – около 33 лет.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • исследование поверхности твердых тел с нанометровым разрешением;
  • исследование магнитной и электрической морфологии поверхности магнитных и сегнетоэлектрических материалов электроники;
  • исследование квантоворазмерных структур, гетероструктур с квантовых ямами, квантовыми точками и квантовыми нитями;
  • исследование неупорядоченных систем и пленок неупорядоченных полупроводников, морфологии пленок и процессов роста с позиций теории самоорганизации;
  • структурная и электромагнитная модификация поверхности твердых тел и квантово-размерных объектов с нанометровым разрешением;
  • диагностика поверхности подложек для изделий микроэлектроники и изделий специального назначения, исследование и диагностика нанобиообъектов.

390005, г. Рязань, ул. Гагарина, д. 59/1
📷

Оборудование (18)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Комплекс визуализации «МС»
Россия ООО "ЛОМО-Микросистемы" МС 2016
Микротвердомер ПМТ-3М
Россия ОАО ЛОМО ПМТ-3М 2016
Весы аналитические RADWAG (Wagi Elektroniczne)
Польша RADWAG Wagi Elektroniczne RADWAG 2013
Оптический металлографический микроскоп MET 5 (Альтами)
Корейская Народно-Демократическая Республика Альтами MET5 2012
Спектрометр на базе монохроматора МДР-206 (ЛОМО ФОТОНИКА)
Россия ООО «ЛОМО ФОТОНИКА» МДР-206 2015
Универсальный автоматизированный спектрометрический комплекс Интегра СПЕКТРА (НТ-МДТ)
Россия ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петер Интегра СПЕКТРА 2012
Аналитико-технологический комплекс для реализации инновационных способов размерной обработки материалов и химического анализа на базе рентген-флюоресцентного спектрометра QUANT-X (Thermo Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Scientific QUANT-X 2012
Установка для измерения вольт-амперных характеристик
- наиболее востребованное оборудование
Россия РГРТУ 2010
Научная учебная лаборатория NanoEducator (НТ-МДТ)
Россия ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петер Nanoeducator 2008
Измерительная установка для исследования барьерных структур
- наиболее востребованное оборудование
Россия РГРТУ 2010
Масс-спектрометр MX-7304 (НИТИ)
Россия НИТИ MX-7304 2006
STM-головка с предусилителем Solver-Pro (НТ-МДТ)
Россия ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петер Solver-Pro 2005
Наноизмерительный комплекс зондовой микроскопии на базе АСМ-СТМ NTEGRA (НТ-МДТ)
Россия НТ-МДТ ИНТЕГРА Аура 2005
Микроскоп сканирующий зондовый Solver Pro (НТ-МДТ)
Россия НТ-МДТ, Asus Solver-Pro 2004
Атомный силовой микроскоп Смена-B (НТ-МДТ)
Россия НТ-МДТ Смена-B 2002
Установка для измерения электрофизических характеристик неупорядоченных и нанокристаллических структур
- приобретено в рамках государственного контракта
Россия РГРТУ 2012
Комплекс измерительный электронно-оптический с модулями контроля электрофизических характеристик наноматериалов и наноструктур JSM 6610LV (Jeol)
Япония НТ-МДТ JSM6610LV 2012
Система зондирования полупроводниковых материалов на базе лазерных модулей
Россия ЛакомПлюс СЗПМ 2012

Услуги (14)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Элементный анализ химического сотава неорганических метериалов
_не указано
Исследование электрофизических характеристик полупроводниковых гетероструктур преобразователей солнечной энергии
Рациональное природопользование
Измерение и оптимизация электрических параметров плоских электродных систем для радиочастотного времяпролетного масс-рефлектрона
Индустрия наносистем
Разработка методики измерения НЧ шума барьерных полупроводниковых структур
Индустрия наносистем
Инструментальное сопровождение научно-исследовательских работ аспирантов и докторантов
Индустрия наносистем
Инструментальное обеспечение лабораторных и практических занятий в политехнических классах РГРТУ
Индустрия наносистем
Обеспечение практических и лабораторных занятий, в том числе в режиме удаленного доступа, Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению «Диагностика наноматериалов и наноструктур»
- наиболее востребованная услуга
Информационно-телекоммуникационные системы
Исследование физических характеристик поверхности материалов, обработанных с помощью лазера, методами АСМ
Индустрия наносистем
Исследование электрофизических характеристик пленок a-Si:H для солнечных элементов с нанометровым разрешением
Индустрия наносистем
Исследования поверхности катодов высоковольтных импульсных тиратронов
Индустрия наносистем
Исследование стабильности электрических характеристик компонентов РЭА электрофизическими методами
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Исследования поверхности катодов импульсных вакуумных приборов методами зондовой и электронной растровой микроскопии
Индустрия наносистем
Работы по осуществлению удаленного доступа к оборудованию РЦЗМкп РГРТУ
Информационно-телекоммуникационные системы
Исследования поверхностей наноструктурированных пленок GST225 методами АСМ и СТМ
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем

Методики (31)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика определение микротвердости материалов и пленочных покрытий методом Виккерса ФГБОУ ВО РГРТУ
Метод исследования распределения электрических полей по активным областям солнечных элементов (СЭ) ФГБОУ ВПО РГРТУ
Метод исследования электрически и оптически активных дефектов, создающих глубокие уровни в запрещенной зоне (щели подвижности) в солнечных элементах ФГБОУ ВПО РГРТУ
Метод исследования распределения микро- и нанокристаллических включений, легирующих и неконтролируемых примесей в мульти- и нанокристаллическом кремнии, химического и структурного состава включений ФГБОУ ВПО РГРТУ
Методика определение локальной плотности зарядовых состояний и их энергетического распределения в полупроводниковых тонкопленочных микро- и наноструктурах ФГБОУ ВПО РГРТУ
Методика измерения рельефа поверхности при сканировании образца проводящим зондом с помощью метода постоянной высоты (Constant Height mode) Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии 16.06.2010
Методика измерения рельефа поверхности при сканировании образца проводящим зондом с помощью метода постоянного тока (Constant Current mode) Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии 27.03.2009
Методика получения изображения поверхности характеристическим рентгеном с помощью растровой электронной микроскопии
Методика получения изображения поверхности во вторичных электронах с помощью растровой электронной микроскопии
Методика получения изображения поверхности в отраженных электронах с помощью растровой электронной микроскопии
Методика элементного анализа материалов и покрытий методом квадрупольной масс-cпектрометрии
Методика элементного анализа материалов и покрытий методом масс-спектрометрии вторичных ионов
Методика элементного анализа материалов и покрытий методом магнитной масс-cпектрометрии ВНИИМС 27.03.2009
Методика определения параметров дефектов с глубокими уровнями в запрещенной зоне полупроводников и полупроводниковых наногетероструктур методом токовой DLTS (CDLTS) ВНИИМС 27.03.2009
Методика измерения концентрации, подвижности носителей заряда в полупроводниковых материалах с помощью эффекта Холла ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения локальной поверхностной электрической емкости в системе проводящий образец - проводящее острие с помощью сканирующей емкостной микроскопии (СЕМ) (Scanning Capacitance Microscopy, SCM) ВНИИМС 27.03.2009
Методика измерения распределения электрического потенциала по поверхности образца методом зонда Кельвина (Kelvin Probe Microscopy) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения электрического потенциала по поверхности образца с помощью электростатической силовой микроскопии (ЭСМ) (Electrostatic Force Microscopy, EFM) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения магнитной структуры поверхности, связанной с локальными различиями распределения первой производной магнитного поля с помощью магнитно-силовой микроскопии (С МСМ) (DC Magnetic Force Mi­croscopy, DC MFM) ВНИИМС 27.03.2009
Методика измерения рельефа поверхности с использованием колеблющегося с резонансной частотой зонда бесконтактным методом ACM (Non-Contact mode) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения особенностей рельефа, поверхностной адгезии и вязкоупругости, определяющих фазовую задержку колебаний зонда с помощью метода отображения фазы (Phase Imaging mode) ВНИИМС 27.03.2009
Методика измерения рельефа поверхности с использованием колеблющегося с резонансной частотой зонда прерывисто-контактным методом ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения электрического потенциала по поверхности образца с повышенным разрешением с помощью контактной электростатической силовой микроскопии (ЭСМ) (Contact EFM) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения локальной проводимости образца с помощью метода сопротивления растекания. (Spreading Resistance Imaging) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения локальной упругости по поверхности образца с помощью метода модуляции силы (Force Modulation mode) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения распределения локальной силы трения по поверхности образца с помощью микроскопии латеральных сил (Lateral Force Microscopy) ВНИИМС 27.03.2009
Методика отображения сигнала рассогласования на входе системы обратной связи в процессе реализации метода постоянной силы, подчеркивание малоразмерных деталей рельефа поверхности посредством контактного метода рассогласования (Contact Error mode) ВНИИМС 27.03.2009
Методика измерения рельефа поверхности при сканировании образца зондом, находящимся с ним в непосредственном контакте, при этом система обратной связи разомкнута и z-координата сканера поддерживается постоянной с помощью метода постоянной высоты (Constant Height mode) ВНИИМС 27.03.2009
Методика выполнения измерений энергии ионизации дефектов с глубокими уровнями в полупроводниковых барьерных микро- и наноструктурах ФГБОУ ВПО РГРТУ 10.11.2011
Методика выполнения измерений вольт-амперных характеристик полупроводниковых и диэлектрических микро- и наноструктур ФГБОУВПО РГРТУ 01.06.2011
Методика выполнения измерений вольт-фарадных характеристик полупроводниковых микро- и наноструктур ФГБОУ ВПО РГРТУ 20.06.2011

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий