Местонахождение УНУ:

• Федеральный округ: Центральный
• Регион: г. Москва
• 117198, г. Москва, ул. Миклухо-Маклая, д. 6

Руководитель работ на УНУ:

• Станишевский Ярослав Михайлович
• +7 (499) 9368599
• nanotechnology-rudn@yandex.ru

Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа в комплекте с оборудованием пробоподготовки и прибора синхронного термического анализа с масс-спектрометром предназначен для проведения исследований в области физики плазмы, а также различных материалов на наноуровне, в том числе, материалов и продуктов нанотехнологий. Комплекс по исследованию свойств поверхности включает в себя современное оборудование: - 200 кВ просвечивающий электронный микроскоп с катодом из монокристалла гексаборида лантана (LaB6). Установка обеспечивает возможность работы в режимах ПЭМ, ПРЭМ, темного поля, получение дифракционных картин, проведение анализа с помощью ЭДС и энергетического фильтра. В комплекте имеется ПЗС-камера нижнего крепления высокого разрешения с разрешением не менее 11 млн. пикс. и камера бокового крепления, разрешением1,3 млн. пикс. Энергетический фильтр нижнего крепления (устанавливается под нижней ПЗС-камерой), также выполняет функции спектрометра характеристических потерь энергии электронов. В комплекте имеется программное обеспечение для проведения анализа характеристических потерь электронов в STEM режиме, позволяющее строить распределение элементов, как вдоль линии, так и на заданном участке, получать спектры энергетических потерь различных элементов и система энергодисперсионного анализа для сканирующего режима. - Система ионного утонения образцов - Устройство плазменной очистки поверхности образцов - Прибор СТА (синхронный термический анализ) сочетает методы дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии в одном измерении. С помощью СТА проводятся измерения потоков теплоты и измерения массы при полностью идентичных условиях. На данном приборе можно быстро и всесторонне проанализировать термостойкость образца, реакции разложения, состав, фазовые переходы, процессы плавления материалов.  - Компактный масс-спектрометр с нагревом капиллярной системы входного отверстия, позволяющий проводить анализ газов - продуктов термического анализа. Данный прибор работает совместно с ДСК, ТГ, СТА- анализаторами.

Данный комплекс обеспечивает возможность подготовки образцов и проведение исследований в широких областях применения - физике плазмы, а также и различных конструкционных и функциональных материалов на наноуровне, в том числе, материалов и продуктов нанотехнологий. Важным аспектом применения комплекса является проведение междисциплинарных исследований, примером которых может служить исследование тех же пленочных наноструктур, получаемых физическими методами и используемых в химических процессах.

Исследование пленок диоксида титана. Образец представляет собой структуру в виде скопления кристаллитов диоксида титана. Характерные размеры кристаллитов лежат в диапазоне от 5 до 15 нм. Контраст на полученном электронно-микроскопическом снимке позволяют судить о том, что кристаллиты собраны в структуру по типу «чешуи». Исследование тонкой структуры нановолокнистых катализаторов на основе оксидов алюминия и титана для реакции крекинга пропана.

• Проведение исследований структуры образцов пыли и плёнок, образующихся в плазме термоядерных систем  и на имитационных установках;
• Исследования материалов с наноразмерными кристаллитами, которые, в свою очередь, являются перспективными каталитическими материалами и мембранными материалами;
• Исследование напылённых сверхтонких плёнок из различных материалов, их каталитических свойств, свойств как газовых барьеров для диффузии атомов водорода.

• Индустрия наносистем
• Науки о жизни

Аналитческий просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM 2100
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: JEM-2100 — многоцелевой аналитический просвечивающий электронный микроскоп. Благодаря высококачественным электронной пушке с LAB6 катодом и магитным линзам микроскоп имеет разрешение 0,19 нм, таким образом позволяя получать прямые изображения атомной решётки. В микроскопе реализован как режим дифракции в сходящемся пучке, так и сканирующий режим с нанометровым разрешением.      Прямое изображение атомной решетки наночастиц оксида титана Основные характеристики ПЭМ JEM-2100. · Предельное разрешение:  0,19 нм · Максимальное ускоряющее напряжение:  200 кВ · Стабильность ускоряющего напряжения  ≤ 2*10-6 мин-1 · Стабильность тока объективной линзы  ≤ 1*10-6 мин-1 · Фокусное расстояние объективной линзы:  1,9 мм · Сферическая аберрация объективной линзы: - 0,5 мм · Максимальный угол наклона пучка: 10° · Увеличение:  50-1500000 крат · Диапазон углов наклона образца: ±20° · Перемещение образца по осям X , Y :  2 мм · Перемещение образца по оси Z : 0,1 мм · Угол сходимости в режиме дифракции в сходящемся пучке: 1,5-20 мрад · Размер электронного зонда в сканирующем режиме: 0,5-25 нм

Прибор синхронного термического анализа NETZSCH-GERATEBAU Gmbh с опциями
Фирма-изготовитель:  Netzsch-Geratebau GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Система предназначена для проведения термического анализа образцов.    предназначена для проведения термогравиметрического анализа и дифференциальной сканирующей калориметрии;     определяет состав газов, выделяющихся в процессах нагрева исследуемых образцов;     определяет теплоемкость материалов и тепловые эффекты при прохождении различных реакций;     определяет чистоту материала;     позволяет проводить исследования в диапазоне температур от комнатной до 1500 °С в вакууме, инертной, окислительной или восстановительной средах;     позволяет изучать свойства твердых материалов, в том числе керамических, полимерных, порошковых, минеральных и др., в различных фазовых состояниях

Система ионной резки образцов EM-09100IS
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Предназначена для механического и ионного утонения образцов минералов, керамики, горных пород при дальнейшем их исследовании на просвечивающем электронном микроскопе

Устройство плазменной очистки поверхности Yamato PDC 200
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Плазменная очистка поверхности образцов