Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку УНУ

УНУ Комплекс по исследованию свойств поверхности РУДН

Сокращенное наименование УНУ: Комплекс по исследованию свойств поверхности

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение «Российский университет дружбы народов»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Классификационная группа УНУ:

Год создания УНУ: 2013

Размер занимаемых УНУ площадей, кв. м: 40

Сайт УНУ: http://nano.rudn.ru/?page_id=2943

Заказать услуги УНУ

Контактная информация:

Местонахождение УНУ:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 117198, г. Москва, ул. Миклухо-Маклая, д. 6

Руководитель работ на УНУ:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 1Число публикаций, ед.: 1Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 57.75

Информация об УНУ:

Комплекс по исследованию свойств поверхности предназначен для проведения исследований различных объектов, включая наноструктуры, с высоким пространственным разрешением с применением методик сканирующей зондовой микроскопии, Рамановской спектроскопии, наноиндентирования образцов и оптических исследований в области видимого света.

Главные преимущества, обоснование уникальности установки, в том числе сопоставление УНУ с существующими аналогами, многофункциональность и междисциплинарность УНУ:

Комплекс по исследованию свойств поверхности позволяет проводить мультисторонее исследование характеристик поверхностей образцов с использованием различных методов, включая определение топографии поверхности, исследования электрофизических свойств, в т.ч. магнитных, проведение химикоструктурного анализа наноструктур методами Рамановской спектроскопии, построение карт распределения механических свойств материалов на поверхности одновременно с получением рельефа поверхности, микро- и наноиндентрование и склерометрию с последующим сканированием поверхности в области индентирования, количественное измерение модуля упругости методом силовой спектроскопии, получение изображения поверхности в отраженном свете с регулируемым увеличением (светлое поле, поляризация, DIC), видеозахват и фотодокументирование изображения поверхности. Комплекс обеспечивает многофункциональные исследования свойств как наноразмерных пленочных структур, в том числе графеновых пленок, так и монолитных образцов и поверхностей различных деталей.

Наиболее значимые научные результаты исследований (краткое описание):

Выполнен цикл работ по комплексному исследованию наноструктурированных алюмооксидированных поверхностей для компании «РУСАЛОКС» методами оптической конфокальной микроскопии, спектрометрии и атомной силовой микроскопии с использованием установки «Интегра-Спектра». Проведены работы по созданию и экспериментальным исследованиям графеновых структур и многослойных оптических покрытий.

Направления научных исследований, проводимых на УНУ:

  • Исследования электрофизических и магнитных свойств наноразмерных пленочных структур, в том числе графеновых пленок;
  • Исследования механических свойств износостойких и упрочняющих покрытий;
  • Исследования топографии и структуры поверхностей образцов и деталей.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Науки о жизни

Фотографии:

Состав УНУ и вспомогательное оборудование: (номенклатура — 4 ед.)

Аналитико-технологический комплекс для исследований наноструктур
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: ИНТЕГРА Спектра – это уникальная интеграция Сканирующего Зондового Микроскопа с конфокальной микроскопией/спектроскопией люминесценции и комбинационного рассеяния (КР). Атомно-силовая микроскопия; Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия; Конфокальная КР микроскопия; Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия; Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ); Зондово-усиленная КР / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS)

Микроскоп Nikon Eclipse MA200
Фирма-изготовитель:  Nikon Metrology
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Оптическая микроскопия объектов в отраженном и проходящем свете

Микроскоп интерференционный МИМ-310
Фирма-изготовитель:  ООО "Лаборатории Амфора"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение микроскопа  МИМ-310 - 3D визуализация и исследование геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) кристаллических и полупроводниковых наноструктур, нанодинамики их изготовления.  

Сканирующий нанотвердомер НаноCкан-3D
Фирма-изготовитель:  ТИСНУМ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Сканирующие нанотвердомеры «НаноСкан-3D» предназначены для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.

Услуги УНУ: (номенклатура — 0 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Методики измерений, применяемые на УНУ: (номенклатура — 0 ед.)

Вернуться к списку УНУ

 

Для просмотра сайта поверните экран