Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку УНУ

Многофункциональный комплекс для формирования и исследования параметров тонких пленок

Сокращенное наименование УНУ: МКФИП ТП

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Рязанский государственный радиотехнический университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Классификационная группа УНУ: Стенды для электро-, теплофизических и механических испытаний

Год создания УНУ: 2007

Размер занимаемых УНУ площадей, кв. м: 315

Заказать услуги УНУ

Контактная информация:

Местонахождение УНУ:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: Рязанская область
  • 390005, г. Рязань, ул. Гагарина, д. 59/1

Руководитель работ на УНУ:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Информация об УНУ:

Многофункциональный комплекс для формирования и исследования морфологических электрофизических, оптических, физико-механических свойств наноразмерных и наноструктурированных пленок и покрытий содержит необходимое оборудование, адаптированное для исследования наноразмерных пленок и слоев. С использованием многофункционального комплекса возможно выполнение исследований в различных областях: солнечная энергетика, энергосбережение, нанотехнологии, микросистемная техника и других.

Главные преимущества, обоснование уникальности установки, в том числе сопоставление УНУ с существующими аналогами, многофункциональность и междисциплинарность УНУ:

Многофункциональный комплекс для формирования и исследования морфологических электрофизических, оптических, физико-механических свойств наноразмерных и наноструктурированных пленок и покрытий содержит необходимое оборудование, адаптированное для исследования наноразмерных пленок и слоев с использованием следующих методов: - сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) с атомарным разрешением; - атомно- силовая микроскпия (АСМ); - электронно-зондовая микроскопия (ЭЗМ); - масс-спектрометрия, спектрофотометрия; - наноиндентирование и др. На базе УСУ «МКФИП ТП» возможно проведение полного объема исследований по разработке методики комплексной диагностики субмикронных и наноразмерных пленок и покрытий. Приборная база УСУ «МКФИП ТП» специально адаптирована для исследования различных типов пленок и покрытий. УСУ «МКФИП ТП» является уникальной научной установкой, объединяющей в единый комплекс основные методы формирования и исследования тонких (субмикронных и наноразмерных пленок).

Направления научных исследований, проводимых на УНУ:

  • физика неупорядоченных полупроводников;
  • наноструктурированные и наноразмерные просветляющие и проводящие слои фотоэлектрических (солнечных) элементов четвертого поколения;
  • наноразмерные эрозионностойкие покрытия для магнитоуправляемых контактов и MEMS-коммутаторов;
  • низкоэмиссионные покрытия энергосберегающих стекол.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии:

Состав УНУ и вспомогательное оборудование: (номенклатура — 43 ед.)

STM-головка с предусилителем для сканирующего зондового микроскопа Solver-Pro
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ, Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Анализатор СК4-58
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1995
Количество единиц:  1

Анализатор СК4-59
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1995
Количество единиц:  1

Атомно-силовой микроскоп «Смена – В»
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ, Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Вакууметр ВИ-14
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1995
Количество единиц:  1

Вакуумный насос НМД -0,25
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1

Вакуумный пост “Вершина”
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Водоохладитель ВДО-0,35
Фирма-изготовитель:  Россия
Количество единиц:  1

Высоковакуумная установка АВП-05
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1

Измеритель ФК2-12
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Измерительная установка для исследования барьерных структур
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Комплекс КБНС-4
Фирма-изготовитель:  СССР
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Компрессор COSMOS
Фирма-изготовитель:  Fiac, Италия
Количество единиц:  1

Лаборатория электрофизических исследований на базе цифровой измерительной техники
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Лазер ЛГ-70
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1991
Количество единиц:  1

Лазер ЛГИ 4-703
Фирма-изготовитель:  Россия
Количество единиц:  1

Люкс-яркометр ТКА-ПКМ
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Макет установки для измерения ВАХ
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр М8730
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1980
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр МС-7201
Фирма-изготовитель:  НИТИ, СССР
Год выпуска:  1984
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр МСХ-6
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр МХ-7303
Фирма-изготовитель:  НИТИ, СССР
Год выпуска:  1983
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр МХ-7304
Фирма-изготовитель:  НИТИ, СССР
Год выпуска:  1983
Количество единиц:  1

Масс-спектрометр МХ-7304
Фирма-изготовитель:  НИТИ, СССР
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1

Модулятор МЛ-102А
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1983
Количество единиц:  2

Монохромотограф УМ-2
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1994
Количество единиц:  1

Мультиплексор
Количество единиц:  1

Нановольтметр Р341
Фирма-изготовитель:  СССР
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1

Насос ТМН-500
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Оже-спектрометр 09ИОС-3
Фирма-изготовитель:  НИТИ, СССР
Год выпуска:  1991
Количество единиц:  1

Оптический научный микроскоп NU-2E
Фирма-изготовитель:  Карл Цейс, Йена, ГДР
Год выпуска:  1980
Количество единиц:  1

Отлад. ср-во DSP-DEVKIT-2S60
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Рабочая станция для СЗМ Solver-Pro на базе персонального компьютера
Фирма-изготовитель:  Asus, Тайланд
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Растровый электронный микроскоп 09ИОЭ-100-005ВКУ
Фирма-изготовитель:  НИТИ, СССР
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1

Растровый электронный микроскоп JSM – 50a
Фирма-изготовитель:  JEOL, Япония
Год выпуска:  1983
Количество единиц:  1

Рентгеновский микроанализатор JXA-50a
Фирма-изготовитель:  JEOL, Япония
Год выпуска:  1977
Количество единиц:  1

Спектрограф ИСП-30
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1

Спектрометр
Количество единиц:  1

Туннельный и атомно-силовой микроскоп «Solver-Pro»
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ, Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Универсальный автоматизированный измерительно-аналитический комплекс сканирующей зондовой микроскопии (зондоваянанолаборатория "Ntegra-Aura")
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ, Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Установка вакуумного напыления УВМ-3
Фирма-изготовитель:  Россия
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Установка УВМ
Фирма-изготовитель:  Россия
Количество единиц:  1

Учебнаянанолаборатория зондовой микроскопии "Nanoeducator"
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ, Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Услуги УНУ: (номенклатура — 6 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые на УНУ: (номенклатура — 9 ед.)

7. Определение плотности поверхностного заряда и концентрации ионизированных поверхностных и объемных состояний в пленках неупорядоченных полупроводников методом атомно-силовой микроскопии.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ЗАО "НТ-МДТ"
Дата аттестации:  20.11.2009

Измерение спектрального коэффициента отражения низкоэмиссионных нанопокрытий энергосберегающих стёкол методом спектрофотометрии.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  PerkinElmer, Inc
Дата аттестации:  15.03.2004

Исследование микротекстуры поверхности контактов герконовых реле методами атомно-силовой и туннельной микроскопии

Исследование морфологии поверхности и распределения поверхностного сопротивления алмазоподобных покрытий методами сканирующей зондовой микроскопии

Исследование наноструктурированных поверхностей электродов газонаполненных и вакуумных магнитоуправляемых контактов.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ЗАО "НТ-МДТ"

Исследование стабильности электрических характеристик компонентов РЭА

Исследования поверхности катодов импульсных вакуумных приборов

Отработка режимов удалённого доступа к сканирующему туннельному микроскопу и его виртуальному симулятору
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ФГБОУ ВПО "РГРТУ"
Дата аттестации:  06.10.2010

Химический микроанализ покрытий электродов газонаполненных и вакуумных магнитоуправляемых контактов.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ЗАО "НТ-МДТ"

Вернуться к списку УНУ

 

Для просмотра сайта поверните экран